爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021:修订间差异

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第3,118行: 第3,118行:
式中:
式中:


…………………………(4)
<math>t=\frac{R}{r}(k+t_1)-(k+t_2)</math>…………………………(4)


t—— 温升,单位为开尔文(K);
t—— 温升,单位为开尔文(K);
第3,733行: 第3,733行:




[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图A.1 电阻电路.jpeg|400px]]
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021 图A.2 1类电容电路.jpeg|400px]]


标引序号说明:
标引序号说明:
第3,748行: 第3,748行:




[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图A.2 I类电容电路.jpeg|400px]]
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021 图A.2 1类电容电路.jpeg|400px]]
 


标引序号说明:
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第10,461行: 第10,460行:


[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图C.2 复合间距测量.jpeg|400px]]
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图C.2 复合间距测量.jpeg|400px]]
标引序号说明:
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第10,630行: 第10,630行:




最小厚度由外表面温度确定。
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图D.2没有外壳的浇封应用(续).jpeg|400px]]


b) 温度保护
表5、表 F.1 和表F.2 的第3列适用于被标记处的隔离距离,至自由表面最小厚度为1 mm。
c) 电路隔离保护
至自由表面最小厚度至少为表5第3列规定值的1/2,最小为1 mm。
d) 本安电路中熔断器的保护
至自由表面最小厚度至少为表5第3列规定值的1/2,最小为1mm。
e) 隔离气体
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图D.2没有外壳的浇封应用(续).jpeg|400px]]
图 D.2 没有外壳的浇封应用 ( 续)
图 D.2 没有外壳的浇封应用 ( 续)






[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图D.3符合6.6模铸组件举例.jpeg|400px]]


[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图D.3符合6.6模铸组件举例.jpeg|400px]]
标引序号说明:
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第10,669行: 第10,646行:
3——印制电路板最小厚度0.5 mm。
3——印制电路板最小厚度0.5 mm。


图 D.3 符 合 6 . 6 模 铸 组 件 举 例
图 D.3 符 合 6.6 模 铸 组 件 举 例


注 3 : 图D.1~ 图 D.3 为简示图,未显示进出组件的连接,主要是对保护方式要点的说明。
注 3 : 图D.1~ 图 D.3 为简示图,未显示进出组件的连接,主要是对保护方式要点的说明。
第10,675行: 第10,652行:
图 D.1 是对使用浇封化合物实现浇封组件的举例说明,显示出至浇封化合物自由表面、至金属外壳或固体绝 缘灌封外壳间距要求的基本差异。包括:
图 D.1 是对使用浇封化合物实现浇封组件的举例说明,显示出至浇封化合物自由表面、至金属外壳或固体绝 缘灌封外壳间距要求的基本差异。包括:


— — 图D.1a)无外壳;
—— 图D.1a)无外壳;


— — 图D.1b) 完整外壳;
—— 图D.1b) 完整外壳;


——图 D.1c) 敞开式外壳;
——图 D.1c) 敞开式外壳;
第10,689行: 第10,666行:
——图 D.2b) 降低表面温度的应用;
——图 D.2b) 降低表面温度的应用;


图 D.2c) 本安电路的隔离;
—— 图 D.2c) 本安电路的隔离;


— — 图 D.2d) 本安电路中熔断器的浇封保护方式;
—— 图 D.2d) 本安电路中熔断器的浇封保护方式;


——图 D.2e)隔离气体的浇封保护方式。
——图 D.2e)隔离气体的浇封保护方式。
第10,697行: 第10,674行:
图 D.3 是对采用固体绝缘封装方式的举例说明。显示出结构和至表面间距的基本要求,固体绝缘封装技术是 将组件作为一个单元进行模铸。包括:
图 D.3 是对采用固体绝缘封装方式的举例说明。显示出结构和至表面间距的基本要求,固体绝缘封装技术是 将组件作为一个单元进行模铸。包括:


—--图D.3a)未被安装元件的固体绝缘封装方式,例如熔断器。
——图D.3a)未被安装元件的固体绝缘封装方式,例如熔断器。


图 D.3a)是为了表明一个装置在6个面同时受力状态下模压而成,例如熔断器。
图 D.3a)是为了表明一个装置在6个面同时受力状态下模压而成,例如熔断器。


- 图 D.3b) 安装于印制电路板元件的固体绝缘封装方式,例如熔断器。
——图 D.3b) 安装于印制电路板元件的固体绝缘封装方式,例如熔断器。
 
图 D.3b) 是为表明虽然方式与图D.3a) 相似,但元件在受压前预先安装于印制电路板(图中3),例如熔断


器。有时也指嵌件成型。
图 D.3b) 是为表明虽然方式与图D.3a) 相似,但元件在受压前预先安装于印制电路板(图中3),例如熔断器。有时也指嵌件成型。




 
== 附 录 E ==
附 录 E


(资料性)
(资料性)
第10,715行: 第10,689行:
瞬态能量试验
瞬态能量试验


E.1 原则
=== E.1 原则 ===


产生瞬态电压和电流的电路,若其产生的瞬态能量不高于10.1.5.3规定,则允许其产生的瞬态电压 和电流高于附录 A 提供的数值。例如,当电源通过一系列半导体限流开关检测到大电流并且切断时, 但是瞬时能量还是传递到负载上。又如, 一个电压检测电路用于触发与负载并联在一起的半导体闸流 管,在半导体闸流管击穿前,高电压瞬时出现在负载两端。
产生瞬态电压和电流的电路,若其产生的瞬态能量不高于10.1.5.3规定,则允许其产生的瞬态电压 和电流高于附录 A 提供的数值。例如,当电源通过一系列半导体限流开关检测到大电流并且切断时, 但是瞬时能量还是传递到负载上。又如, 一个电压检测电路用于触发与负载并联在一起的半导体闸流 管,在半导体闸流管击穿前,高电压瞬时出现在负载两端。
第10,725行: 第10,699行:
本试验旨在测量产生超过附录 A 规定的电压和电流时或使用10.1的火花试验装置进行试验时不 会引起点燃的能量值。
本试验旨在测量产生超过附录 A 规定的电压和电流时或使用10.1的火花试验装置进行试验时不 会引起点燃的能量值。


E.2 试验
=== E.2 试验 ===


用电压和电流超过附录A 规定值的这段时间,或者用电压和电流超过火花试验装置进行试验不会 点燃值的这段时间,与功率的积分来获得可能释放到爆炸性环境中的能量。
用电压和电流超过附录A 规定值的这段时间,或者用电压和电流超过火花试验装置进行试验不会 点燃值的这段时间,与功率的积分来获得可能释放到爆炸性环境中的能量。


电路试验在5.1规定故障的最不利条件下进行。如果电路向外部设备供电(例如,串联半导体限流 开关的电源通过其输出端子,向爆炸性环境中的其他设备输送电源),那么,最不利的负载可能是在开路 和短路限值之间的任一负载。
电路试验在5.1规定故障的最不利条件下进行。如果电路向外部设备供电(例如,串联半导体限流 开关的电源通过其输出端子,向爆炸性环境中的其他设备输送电源),那么,最不利的负载可能是在开路和短路限值之间的任一负载。


例如:如果开路时电源电压为15 V, 且有一串联限流开关在电流为1A 时动作,那么可以预计,当 电路连接到大约14.5 V 的最不利齐纳负载时,在引起电流开关动作前将会产生一个大于1A 的瞬态电 流。电压低于该值的齐纳负载也宜考虑进行试验。
例如:如果开路时电源电压为15 V, 且有一串联限流开关在电流为1A 时动作,那么可以预计,当 电路连接到大约14.5 V 的最不利齐纳负载时,在引起电流开关动作前将会产生一个大于1A 的瞬态电 流。电压低于该值的齐纳负载也宜考虑进行试验。
第10,737行: 第10,711行:
在这种情况下,瞬态能量通过测量齐纳管的电流(使用钳形电流表)和电压来计算。同时,可以测量 得到齐纳管每个值的一系列与电流相对应的时间,从而获得电压乘以电流及对应时间的曲线图。计算 电流下降到非点燃值以前曲线图的面积,即试验获得的瞬态能量。
在这种情况下,瞬态能量通过测量齐纳管的电流(使用钳形电流表)和电压来计算。同时,可以测量 得到齐纳管每个值的一系列与电流相对应的时间,从而获得电压乘以电流及对应时间的曲线图。计算 电流下降到非点燃值以前曲线图的面积,即试验获得的瞬态能量。


在其他情况下,最严酷的负载可能是可变电阻器。在这种情况下,对应每个短路至电阻值小于 U./I 。的电阻负载可绘出一组电流时间曲线,通过电阻上产生的功率及对应的时间计算传递的瞬态功 率。此类负载可以是电容器或者电感器,这取决于特定的输出参数。
在其他情况下,最严酷的负载可能是可变电阻器。在这种情况下,对应每个短路至电阻值小于 U<sub>o</sub>/I<sub>o</sub>的电阻负载可绘出一组电流时间曲线,通过电阻上产生的功率及对应的时间计算传递的瞬态功 率。此类负载可以是电容器或者电感器,这取决于特定的输出参数。


需要注意的是,电压和电流用小于1μs/分格的高速存储示波器进行测量。试验设备的选择和试验 线路的连接宜最大程度地减少对被测值的影响,推荐使用钳形电流测量探头、高阻抗电压测量设备;推 荐使用具有双向低接触电阻特性的水银触点倾斜开关,但是其他特性等效的开关也可使用。
需要注意的是,电压和电流用小于1μs/分格的高速存储示波器进行测量。试验设备的选择和试验 线路的连接宜最大程度地减少对被测值的影响,推荐使用钳形电流测量探头、高阻抗电压测量设备;推 荐使用具有双向低接触电阻特性的水银触点倾斜开关,但是其他特性等效的开关也可使用。




[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图E.1 测试电路举例.jpeg|400px]]


[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图E.1 测试电路举例.jpeg|400px]]
标引序号说明:
标引序号说明:


1-—-—试验电路;
1——试验电路;


2——负载;
2——负载;
第10,761行: 第10,734行:


[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图E.2 输出波形举例.jpeg|400px]]
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图E.2 输出波形举例.jpeg|400px]]
标引序号说明:
标引序号说明:


1—-I 等于火花试验或者附录A 允许的最大电流;
1——I等于火花试验或者附录A 允许的最大电流;


2——传输能量(焦耳)=电压(伏特)×曲线的阴影部分面积(安培秒)。
2——传输能量(焦耳)=电压(伏特)×曲线的阴影部分面积(安培秒)。
第10,771行: 第10,745行:




附 录 F
== 附 录 F ==


(规范性)
(规范性)
第10,777行: 第10,751行:
装配完成的印制电路板的可选间距及元件隔离
装配完成的印制电路板的可选间距及元件隔离


F.1 总则
=== F.1 总则 ===


本附录降低了表5所规定的导电部件的间距要求。本附录适用于最大污染等级为2级的下列 产品:
本附录降低了表5所规定的导电部件的间距要求。本附录适用于最大污染等级为2级的下列 产品:
第10,783行: 第10,757行:
——装配好的印制电路板;和
——装配好的印制电路板;和


— 具有表F.1 或者表F.2 规定保护等级的隔离元件,变压器除外。
——具有表F.1 或者表F.2 规定保护等级的隔离元件,变压器除外。


注:6.3给出了以3级污染等级(GB/T 16935.1)为基础的导电部件间距的通用要求,原则上,依据 GB/T 16935.1的 双重绝缘或者加强绝缘也符合本质安全“ia”和“ib”保护等级安全间距要求。
注:6.3给出了以3级污染等级(GB/T 16935.1)为基础的导电部件间距的通用要求,原则上,依据 GB/T 16935.1的 双重绝缘或者加强绝缘也符合本质安全“ia”和“ib”保护等级安全间距要求。
第10,791行: 第10,765行:
本附录基于标准“低压系统内设备的绝缘配合”(GB/T 16935.1)。
本附录基于标准“低压系统内设备的绝缘配合”(GB/T 16935.1)。


表F.1 中的数据适用于过电压I/Ⅱ/Ⅲ 类(电源电路/非电源电路)、2级污染等级(运行中无冷凝)的情况;数据
表F.1 中的数据适用于过电压I/Ⅱ/Ⅲ 类(电源电路/非电源电路)、2级污染等级(运行中无冷凝)的情况;数据源于GB/T 16935.1。这种替代方法广泛的利用了绝缘配合。


源于GB/T 16935.1。这种替代方法广泛的利用了绝缘配合。
=== F.2 污染的控制 ===
 
F.2 污染的控制


如果印制电路板组件或者隔离部件的污染等级是2级或更高,可采用如下间距:
如果印制电路板组件或者隔离部件的污染等级是2级或更高,可采用如下间距:
第10,807行: 第10,779行:
——将保护印制电路板组件或者隔离部件安装于符合现场使用条件的壳体中,防护等级不应低于 GB/T4208 规定的 IP54;
——将保护印制电路板组件或者隔离部件安装于符合现场使用条件的壳体中,防护等级不应低于 GB/T4208 规定的 IP54;


外壳应符合GB/T 3836.1—2021规定的所有对外壳适用的要求及外壳防护等级不低于 IP54
外壳应符合GB/T 3836.1—2021规定的所有对外壳适用的要求及外壳防护等级不低于 IP54的要求;或


的要求;或
——按照GB/T16935.3 的规定,有效的1型或者2型涂层;或


— — 按照GB/T16935.3 的规定,有效的1型或者2型涂层;或
——安装在一个受控的低污染等级的环境中,在这种情况下,应在制造商提供的文件中规定安装条件且在标志上增加符号“X”( 见 GB/T 3836.1—2021中的标志要求)。


——安装在一个受控的低污染等级的环境中,在这种情况下,应在制造商提供的文件中规定安装条
=== F.3 印制电路板的距离和元件隔离 ===
 
件且在标志上增加符号“X”( 见 GB/T 3836.1—2021中的标志要求)。
 
F.3 印制电路板的距离和元件隔离


F.3.1 “ia” 和“ib” 保护等级
F.3.1 “ia” 和“ib” 保护等级
第10,825行: 第10,793行:
——线路限定为GB/T 16935.1规定的过电压I/Ⅱ/Ⅲ 类(非电源电路/电源电路),制造商应在文 件中增加这些内容作为安装条件。设备防爆合格证应按照 GB/T 3836.1—2021 中的标志要 求标志“X”, 且证书列出的特殊使用条件应详述安装要求。
——线路限定为GB/T 16935.1规定的过电压I/Ⅱ/Ⅲ 类(非电源电路/电源电路),制造商应在文 件中增加这些内容作为安装条件。设备防爆合格证应按照 GB/T 3836.1—2021 中的标志要 求标志“X”, 且证书列出的特殊使用条件应详述安装要求。


符合表 F.1 的间距应认为是可靠的且不考虑产生较低电阻的故障。然而,当要求部件必须满足冗 余要求时(例如二只电容串联在一起),间距小于表F.1 值,但大于或相等于表F.1 规定值的一半应被认 为是单个计数故障,但不考虑其他故障。
符合表 F.1 的间距应认为是可靠的且不考虑产生较低电阻的故障。然而,当要求部件必须满足冗 余要求时(例如二只电容串联在一起),间距小于表F.1 值,但大于或相等于表F.1 规定值的一半应被认为是单个计数故障,但不考虑其他故障。


虽然电气间隙和爬电距离不需要进行型式或者例行试验,但涂层下、通过浇封化合物和通过固体绝 缘的间距应该按GB/T 16935.1 和 GB/T 16935.3的规定进行型式试验和例行试验。因为只能在电气
虽然电气间隙和爬电距离不需要进行型式或者例行试验,但涂层下、通过浇封化合物和通过固体绝 缘的间距应该按GB/T 16935.1 和 GB/T 16935.3的规定进行型式试验和例行试验。因为只能在电气隔离的电路上进行例行试验,所以可在设计印制电路板时加入特殊试验用导体,用于确认制造程序(涂 层、封装)的有效性。
 
 
 
隔离的电路上进行例行试验,所以可在设计印制电路板时加入特殊试验用导体,用于确认制造程序(涂 层、封装)的有效性。


型式试验应考虑设备使用的最严酷的环境条件,例如最高温度和最低温度。
型式试验应考虑设备使用的最严酷的环境条件,例如最高温度和最低温度。
第10,841行: 第10,805行:
对于“ic” 保护等级,采用以下条件可以使用表F.2 的减小间距。
对于“ic” 保护等级,采用以下条件可以使用表F.2 的减小间距。


——如果设备的额定电压或者任何部分的标称电压不超过60 V 峰值,除通用的工业标准外,没有 其他关于隔离间距的要求。额定电压在60 V 峰值~375 V 峰值范围内的设备应符合表 F.2 爬电距离和电气间隙的要求。
——如果设备的额定电压或者任何部分的标称电压不超过60 V 峰值,除通用的工业标准外,没有其他关于隔离间距的要求。额定电压在60 V 峰值~375 V 峰值范围内的设备应符合表 F.2 爬电距离和电气间隙的要求。


——不管设备内或设备外,应采取措施,将电路限定为GB/T 16935.1规定的过电压Ⅱ类。
——不管设备内或设备外,应采取措施,将电路限定为GB/T 16935.1规定的过电压Ⅱ类。
第10,939行: 第10,903行:
| colspan="9" style="vertical-align:middle;" | <sup>a</sup>以R10系列为基础的电压级别。实际工作电压的超差可能小于等于表中规定值的10%。 <br /><sup>b</sup>包括PCB中的部件和元件。 <br /><sup>c</sup>过电压类别依据GB/T 16935.1。 <br /><sup>d</sup>涂层型式依据GB/T16935.3。 <br /><sup>e</sup>包括任何重现峰值电压例如DC-DC变换器,但是瞬态可忽略。
| colspan="9" style="vertical-align:middle;" | <sup>a</sup>以R10系列为基础的电压级别。实际工作电压的超差可能小于等于表中规定值的10%。 <br /><sup>b</sup>包括PCB中的部件和元件。 <br /><sup>c</sup>过电压类别依据GB/T 16935.1。 <br /><sup>d</sup>涂层型式依据GB/T16935.3。 <br /><sup>e</sup>包括任何重现峰值电压例如DC-DC变换器,但是瞬态可忽略。
|}
|}




第10,946行: 第10,909行:
“ic”保护等级的电气间隙、爬电距离和间距
“ic”保护等级的电气间隙、爬电距离和间距


{| class="wikitable"
{| class="wikitable" style="text-align:center;"
 
|-
|-
! 1 !! 2 !! 3 !! 4 !! 5 !! 6 !! 7
! 1
 
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! 电压(峰值) V !! 电气间隙 mm !! 通过浇封化合物的间距 mm !! 通过固体绝缘的间距 mm !! 爬电距离 mm !! 涂层下的间距 mm !! 相比漏电起痕指数(CTI)
| 电压(峰值) V
 
| 电气间隙 mm
| 通过浇封化合物<br />的间距 mm
| 通过固体绝缘<br />的间距 mm
| 爬电距离 mm
| 涂层下的<br />间距 mm
| 相比漏电起<br />痕指数(CTI)
|-
|-
| 90 || 0.4 || 0.15 || 0.15 || 1.25 || 0.3 || 100
| 90
 
| 0.4
| 0.15
| 0.15
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| 190 || 0.5 || 0.3 || 0.3 || 1.5 || 0.4 || 175
| 190
 
| 0.5
| 0.3
| 0.3
| 1.5
| 0.4
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| 375 || 1.25 || 0.3 || 0.3 || 2.5 || 0.85 || 175
| 375
 
| 1.25
| 0.3
| 0.3
| 2.5
| 0.85
| 175
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| &gt;375 || * ||  || * || * || * || *
| >375
 
| *
| *
| *
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| 注1:“*”表示目前该间距无对应值。 注2:制造商宜提供符合绝缘材料CTI要求的证明。 |||||||
| colspan="7" style="text-align:left;" | 注1:“*”表示目前该间距无对应值。 <br />注2:制造商宜提供符合绝缘材料CTI要求的证明。
 
|}
|}


附 录 G
== 附 录 G ==


(规范性)
(规范性)
第10,977行: 第10,968行:
现场总线本质安全概念(FISCO)—— 设备要求
现场总线本质安全概念(FISCO)—— 设备要求


G.1 总则
=== G.1 总则 ===


本附录规定了使用现场总线本质安全概念(FISCO) 的设备结构的详细内容。本附录针对采用曼彻 斯特编码概念、遵照GB/T 16657.2 现场总线物理层安装标准设计的总线供电系统。
本附录规定了使用现场总线本质安全概念(FISCO) 的设备结构的详细内容。本附录针对采用曼彻 斯特编码概念、遵照GB/T 16657.2 现场总线物理层安装标准设计的总线供电系统。
第10,987行: 第10,978行:
注2:典型FISCO设备的示意见图G.1。
注2:典型FISCO设备的示意见图G.1。


G.2 设备要求
=== G.2 设备要求 ===


G.2.1 通则
G.2.1 通则
第11,080行: 第11,071行:
|}
|}


G.3 FISCO现场装置
=== G.3 FISCO现场装置 ===


G.3.1 通则
G.3.1 通则
第11,088行: 第11,079行:
这些要求如下:
这些要求如下:


a) 现场设备最低输入电压参数应为U₁=17.5V;
a) 现场设备最低输入电压参数应为U<sub>i</sub>=17.5V;


b) 总线端子应按本文件的要求对地隔离;
b) 总线端子应按本文件的要求对地隔离;
第11,094行: 第11,085行:
c) 单独供电的现场设备的总线接线端子,应按本文件的要求与其他电源隔离,确保这些接线端子 保持无源,避免总线多点接地;
c) 单独供电的现场设备的总线接线端子,应按本文件的要求与其他电源隔离,确保这些接线端子 保持无源,避免总线多点接地;


d) 每一个现场装置的最大无保护内部电容C; 应不大于5 nF, 不要求在证书或者标牌上说明输 入和内部参数的技术要求;
d) 每一个现场装置的最大无保护内部电容C<sub>i</sub> 应不大于5 nF, 不要求在证书或者标牌上说明输入和内部参数的技术要求;


e) 本文件规定的正常或故障条件下,总线接线端子应保持无源,即接线端子不会成为系统的能量 来源,泄漏电流不大于50μA 时除外;
e) 本文件规定的正常或故障条件下,总线接线端子应保持无源,即接线端子不会成为系统的能量 来源,泄漏电流不大于50μA 时除外;
第11,106行: 第11,097行:
“ia” 和“ib” 等级 FISCO 现场装置的附加要求如下:
“ia” 和“ib” 等级 FISCO 现场装置的附加要求如下:


a) 现场装置最低输入参数应为I;=380 mA,P₁=5.32 W;
a) 现场装置最低输入参数应为I<sub>i</sub>=380 mA,P<sub>i</sub>=5.32 W;


b) 现场装置内部电感L; 不大于10 μH。
b) 现场装置内部电感L; 不大于10μH。


G.3.3 对“ic” 等级 FISCO 现场装置的附加要求
G.3.3 对“ic” 等级 FISCO 现场装置的附加要求


对“ic” 等级FISCO 现场装置的附加要求是,它们的内部电感 L; 不大于20 μH。
对“ic” 等级FISCO 现场装置的附加要求是,它们的内部电感 L<sub>i</sub> 不大于20μH。


G.3.4 终端器
G.3.4 终端器
第11,150行: 第11,141行:
5.32 W。“ic”等级系统内的温度组别是按正常运行条件下确定的。
5.32 W。“ic”等级系统内的温度组别是按正常运行条件下确定的。


G.4 标志
=== G.4 标志 ===


G.4.1 总则
G.4.1 总则


每件设备都应标注“FISCO”一词,并在其后面注明其功能,例如供电电源、现场装置或终端器。另 外,每件设备应按本文件要求标注,本附录修改的除外,例如,制造商的名称和地址仍应标出
每件设备都应标注“FISCO”一词,并在其后面注明其功能,例如供电电源、现场装置或终端器。另 外,每件设备应按本文件要求标注,本附录修改的除外,例如,制造商的名称和地址仍应标出。


有些设备需要双标志,以便于既能够用于FISCO 系统,又能用于常规的本质安全系统中。此时,应 注意 FISCO 标志和常规本质安全系统标志之间的区别。
有些设备需要双标志,以便于既能够用于FISCO 系统,又能用于常规的本质安全系统中。此时,应 注意 FISCO 标志和常规本质安全系统标志之间的区别。


对于 FISCO 供电电源,不需要标注出输出参数 U。、Io、C。、L。、P。及 L。/R ;对于 FISCO 现场装置 或终端器,不需要标志出输入和内部参数 U:、I₁、C₁、Li、P₁ Li/R₁。
对于 FISCO 供电电源,不需要标注出输出参数 U<sub>o</sub>、I<sub>o</sub>、C<sub>o</sub>、L<sub>o</sub>、P<sub>o</sub>及 L<sub>o</sub>/R<sub>o</sub> ;对于 FISCO 现场装置 或终端器,不需要标志出输入和内部参数 U<sub>i</sub>、I<sub>i</sub>、C<sub>i</sub>、L<sub>i</sub>、P<sub>i</sub> L<sub>i</sub>/R<sub>i</sub>。


G.4.2 标志实例
G.4.2 标志实例
第11,166行: 第11,157行:
a) 供电电源
a) 供电电源


FISCO 供电电源


Um:250V
{| class="wikitable"


[Ex ia Ga]ⅡC
|-


制造商名称和地址
!


型号规格
|-


-20℃≤T.≤+50℃
| FISCO 供电电源 <br/>U<sub>m</sub>:250V<br/>[Ex ia Ga]ⅡC <br/>制造商名称和地址 <br/>型号规格 <br/>-20℃≤T≤+50℃ <br/>检验机构代号及防爆合格证编号 <br/>产品编号


检验机构代号及防爆合格证编号
|}
 
产品编号


b) 现场装置
b) 现场装置
c) 终端器
d) 双标志现场装置


{| class="wikitable"
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第11,199行: 第11,183行:


|}
|}
c) 终端器


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第11,211行: 第11,197行:


|}
|}
d) 双标志现场装置


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{| class="wikitable"
第11,220行: 第11,208行:
|-
|-


| 制造商名称和地址 <br>型号规格<br>—20℃≤T<sub>a</sub> ≤+60℃<br>检验机构代号及防爆合格证编号<br>产品编号<br>——————<br>FISCO现场装置<br>Ex ia ⅡC T6 Ga<br>——————<br>Ui:28 V<br>Ci:3 nF<br>Ii:200 mA<br>Li:10μH<br>Pi:1.2 W
| 制造商名称和地址 <br>型号规格<br>—20℃≤T<sub>a</sub> ≤+60℃<br>检验机构代号及防爆合格证编号<br>产品编号<br>——————<br>FISCO现场装置<br>Ex ia ⅡC T6 Ga<br>——————<br>U<sub>i</sub>:28 V<br>C<sub>i</sub>:3 nF<br>I<sub>i</sub>:200 mA<br>L<sub>i</sub>:10μH<br>P<sub>i</sub>:1.2 W


|}
|}
第11,227行: 第11,215行:




[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图G.1 典型系统.jpeg|400px]]


[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图G.1 典型系统.jpeg|400px]]
标引序号说明: 1——终端器;
标引序号说明: 1———终端器;


2 — — 电源;
2 —— 电源;


3 — - 数 据 线 ;
3 —— 数 据 线 ;


4 - — 手持终端;
4 —— 手持终端;


5 — — 现场装置;
5 —— 现场装置;


6 — — 干线; 7-——支线。
6 —— 干线; 7——支线。


图 G.1 典 型 系 统
图 G.1 典 型 系 统


110






附 录 H
== 附 录 H ==


(资料性)
(资料性)
第11,253行: 第11,240行:
半导体限制电源电路的点燃试验
半导体限制电源电路的点燃试验


H.1 概述
=== H.1 概述 ===


电源是任何电路中必不可少的部分。在给危险场所中的本质安全电路供电时,电源输出应是本质 安全的。
电源是任何电路中必不可少的部分。在给危险场所中的本质安全电路供电时,电源输出应是本质 安全的。
第11,265行: 第11,252行:
附录 A 中的曲线和表格是基于使用这样的简单电源电路在火花试验装置测试的电压、电流、电容 和电感,火花试验装置采用4根钨丝与镉盘,400转中不允许点燃。在数学上,假定出现1600次火花, 意味着,在一次打开或关闭输出电源连接的点燃概率(基于获得的点燃数量)小于6.25×10-⁴。实际上, 由于镉盘上钨丝的跳动,以及由于镉盘上的缝隙,火花数量要大得多。因此,实际点燃概率更低。
附录 A 中的曲线和表格是基于使用这样的简单电源电路在火花试验装置测试的电压、电流、电容 和电感,火花试验装置采用4根钨丝与镉盘,400转中不允许点燃。在数学上,假定出现1600次火花, 意味着,在一次打开或关闭输出电源连接的点燃概率(基于获得的点燃数量)小于6.25×10-⁴。实际上, 由于镉盘上钨丝的跳动,以及由于镉盘上的缝隙,火花数量要大得多。因此,实际点燃概率更低。


基于经验数据,已经看出,点燃概率对数相对于电路中电流对数的图呈现了一个线性关系(见 图 H.1)。 基于本文件的要求,仅当用1.5倍正常情况电源所提供电流进行火花试验,且试验气体为规 定特定组别的气体,(对“ia” 和“ib”) 认为电源符合本文件。
基于经验数据,已经看出,点燃概率对数相对于电路中电流对数的图呈现了一个线性关系(见 图 H.1)。 基于本文件的要求,仅当用1.5倍正常情况电源所提供电流进行火花试验,且试验气体为规定特定组别的气体,(对“ia” 和“ib”) 认为电源符合本文件。


基于以上描述的概率与电流的关系,这样的电源将具有在正常电流下小于1.16×10-6的点燃概率。
基于以上描述的概率与电流的关系,这样的电源将具有在正常电流下小于1.16×10<sup>-6</sup>的点燃概率。


总之,只有在正常电流和电压下打开或关闭电源输出时点燃概率小于1.16×10-,这样的电源被认 为符合要求。
总之,只有在正常电流和电压下打开或关闭电源输出时点燃概率小于1.16×10<sup>-6</sup>,这样的电源被认 为符合要求。


电源设计的后续发展引入了复杂电路,不仅通过限制电流、电压、电感和电容,而且通过人工限制放 电持续时间或限制开关接触的电压变化来提供本质安全。使用火花试验装置的常规试验由于以下原因 变得不再满足:
电源设计的后续发展引入了复杂电路,不仅通过限制电流、电压、电感和电容,而且通过人工限制放 电持续时间或限制开关接触的电压变化来提供本质安全。使用火花试验装置的常规试验由于以下原因 变得不再满足:


——不太可能增加电源中电流或电压来提供必要的1.5倍安全系数,因为电路在大多数情况下不
——不太可能增加电源中电流或电压来提供必要的1.5倍安全系数,因为电路在大多数情况下不易改变;
 
易改变;


——由于部件的额定值的限制,电源不能提供增加的电流或电压;
——由于部件的额定值的限制,电源不能提供增加的电流或电压;
第11,281行: 第11,266行:
——用来提供增加电流或电压的电源变化改变了电源的时序电路,又因此改变了电源电路性能。
——用来提供增加电流或电压的电源变化改变了电源的时序电路,又因此改变了电源电路性能。


这些情况下,通常认为通过使用规定的“安全系数1.5”的混合物增加试验气体混合物灵敏度以提供 安全系数是符合要求的。目的是电源用增加的试验气体混合物安全系数进行试验来显示火花试验装置 的400转不发生点燃,因此证明点燃概率低于6.25×10-⁴。因此假定在正常条件下,点燃概率将低于 1.16×10-。
这些情况下,通常认为通过使用规定的“安全系数1.5”的混合物增加试验气体混合物灵敏度以提供 安全系数是符合要求的。目的是电源用增加的试验气体混合物安全系数进行试验来显示火花试验装置 的400转不发生点燃,因此证明点燃概率低于6.25×10<sup>-4</sup>。因此假定在正常条件下,点燃概率将低于 1.16×10<sup>-6</sup>


然而,发现在一些情况下,尽管电源在安全系数1.5的试验气体混合物时点燃概率低于6.25× 10-,不能提供正常条件下的点燃概率1.16×106,因为电源不遵循点燃概率对数和电流对数的线性关 系。这引起了注意,认为这样的电源在正常电流时不能提供“可接受的低点燃概率”。
然而,发现在一些情况下,尽管电源在安全系数1.5的试验气体混合物时点燃概率低于6.25× 10<sup>-4</sup>,不能提供正常条件下的点燃概率1.16×10<sup>-6</sup>,因为电源不遵循点燃概率对数和电流对数的线性关系。这引起了注意,认为这样的电源在正常电流时不能提供“可接受的低点燃概率”。


本附录提供了测试这种复杂电源的试验方法;用增加了灵敏度的试验气体混合物来达到安全系数 (见10.1.3.2)。
本附录提供了测试这种复杂电源的试验方法;用增加了灵敏度的试验气体混合物来达到安全系数 (见10.1.3.2)。
第11,289行: 第11,274行:
要求用安全系数1.5的试验气体进行试验,且确保400转不发生点燃。进行该试验以确保符合本 文件的规范性要求(见10.1.4)。
要求用安全系数1.5的试验气体进行试验,且确保400转不发生点燃。进行该试验以确保符合本 文件的规范性要求(见10.1.4)。


需要进一步的试验以确保电路表现出点燃概率和试验气体安全系数的关联,该关联确保在正常电
需要进一步的试验以确保电路表现出点燃概率和试验气体安全系数的关联,该关联确保在正常电流和同一安全系数气体下获得可接受的低点燃概率1.16×10<sup>-6</sup>。通过用安全系数 SFx=1.5,SFy=2.0,SFz=2.5 的气体混合物测试电源电路来完成。采用点燃概率和安全系数的对数坐标。经过试验, 在这些安全系数下不发生点燃,或如果发生点燃,半导体限制电源的斜率比简单电路大。并且,当安全 系数减小时,半导体限制电源斜率增大,因此确保在正常电流和同一安全系数下,点燃概率低于简单电 路,也就是低于1.16×10<sup>-6</sup>。
 
 
 
流和同一安全系数气体下获得可接受的低点燃概率1.16×10-⁶。通过用安全系数 SFx=1.5,SFy=
 
2.0,SFz=2.5 的气体混合物测试电源电路来完成。采用点燃概率和安全系数的对数坐标。经过试验, 在这些安全系数下不发生点燃,或如果发生点燃,半导体限制电源的斜率比简单电路大。并且,当安全 系数减小时,半导体限制电源斜率增大,因此确保在正常电流和同一安全系数下,点燃概率低于简单电 路,也就是低于1.16×10-⁶。


本附录适用于半导体电流或电压限制电源:在电流或电压超限时限制或关断电流,但在连续的触碰 和断开火花试验装置钨丝和圆盘之间恢复足够快,因此在下次触碰和断开钨丝前恢复正常运行。本附 录不适用于当电流或电压超限时长时间关断的电源。在这种情况,附录E 可能适用。
本附录适用于半导体电流或电压限制电源:在电流或电压超限时限制或关断电流,但在连续的触碰 和断开火花试验装置钨丝和圆盘之间恢复足够快,因此在下次触碰和断开钨丝前恢复正常运行。本附 录不适用于当电流或电压超限时长时间关断的电源。在这种情况,附录E 可能适用。


H.2试验
=== H.2试验 ===


在下列情况,电源宜用火花试验装置进行试验:
在下列情况,电源宜用火花试验装置进行试验:
第11,309行: 第11,288行:
表 H.2 给出了一些适用于上述试验的气体混合物,以及对应的使用标准24 V 、95mH 标定电路的 标定电流。
表 H.2 给出了一些适用于上述试验的气体混合物,以及对应的使用标准24 V 、95mH 标定电路的 标定电流。


表 H.1 试验顺序中提及的DUT 指在试设备。它是设备内部的电源,根据保护等级施加故障,且电 压和电流设定在电路元件最大容差内的最大值。安全系数不施加于电流或电压,因为是施加于试验 气 体
表 H.1 试验顺序中提及的DUT 指在试设备。它是设备内部的电源,根据保护等级施加故障,且电 压和电流设定在电路元件最大容差内的最大值。安全系数不施加于电流或电压,因为是施加于试验气体


当表 H.1 描述的试验顺序要求使用简单电路,用设定在DUT 的 Uo 处的实验室电源电压组成,且 通过使用一系列低电感限流电阻将短路电流限制在DUT 的 Io 处 。
当表 H.1 描述的试验顺序要求使用简单电路,用设定在DUT 的 U<sub>o</sub> 处的实验室电源电压组成,且通过使用一系列低电感限流电阻将短路电流限制在DUT的I<sub>o</sub>处 。


表 H.3 是一个通过表H.1 试验顺序的电路示例。该电路安全系数与点燃概率的关系曲线在图H.1 中给出,标有“Pr- 表 H.3- 通过”。当该电路的图与简单电路的图比较时,标有“Pr- 简单电路”,这表明,虽 然当安全系数较高(在1.67和2.5时)有较多点燃,但当安全系数降低,概率降低比简单电路快,因此,概 率在安全系数降到同一值时有一个可接受的低数值。
表 H.3 是一个通过表H.1 试验顺序的电路示例。该电路安全系数与点燃概率的关系曲线在图H.1 中给出,标有“Pr- 表 H.3- 通过”。当该电路的图与简单电路的图比较时,标有“Pr- 简单电路”,这表明,虽然当安全系数较高(在1.67和2.5时)有较多点燃,但当安全系数降低,概率降低比简单电路快,因此,概率在安全系数降到同一值时有一个可接受的低数值。


表 H.4 是一个未通过表 H.1 试验顺序的电路示例。该电路安全系数与点燃概率的关系曲线在图 H.1 中给出,标有“Pr- 表 H.4- 失败”。当该电路的图与简单电路的图比较时,标有“Pr- 简单电路”,这表 明,虽然当安全系数较高(在1.67和2.5时)有较少点燃,但当安全系数降低,概率降低不比简单电路快, 因此,概率在安全系数降到同一值时不会降低到一个可接受的低数值。
表 H.4 是一个未通过表 H.1 试验顺序的电路示例。该电路安全系数与点燃概率的关系曲线在图 H.1 中给出,标有“Pr- 表 H.4- 失败”。当该电路的图与简单电路的图比较时,标有“Pr- 简单电路”,这表 明,虽然当安全系数较高(在1.67和2.5时)有较少点燃,但当安全系数降低,概率降低不比简单电路快, 因此,概率在安全系数降到同一值时不会降低到一个可接受的低数值。
第11,675行: 第11,654行:




点燃概率
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图H.1 安全系数与点燃概率.jpeg|400px]]
 
 
 
100
 
10-1
 
10-2
 
◆-Pr- 简单电路
 
Pr- 表H.3- 通过
 
- Pr- 表H.4- 未通过
 
10-³
 
10-4
 
10-5
 
1


试验气体的安全系数
10
[[文件:爆炸性环境 第4部分:由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2021_图H.1 安全系数与点燃概率.jpeg|400px]]
图 H.1 安全系数与点燃概率
图 H.1 安全系数与点燃概率


焦雨桐
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