电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018:修订间差异

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第635行: 第635行:
表 4 静电放电施加在连接器上的情况
表 4 静电放电施加在连接器上的情况


{| class="wikitable" style="background-color:#FFF; color:#2D3748;"
{| class="wikitable" style="text-align:center;"
|- style="vertical-align:middle;"
|-
! 例
! 例
! 连接器外盖
! 连接器外盖
第642行: 第642行:
! 空气放电
! 空气放电
! 接触放电
! 接触放电
|- style="background-color:#F0F0F0;"
|-
| style="vertical-align:middle;" | 1
| 1
| style="vertical-align:middle;" | 金属
| 金属
| style="vertical-align:middle;" | 无
| 无
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| style="vertical-align:middle;" | 外壳
| 外壳
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| 2
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| 金属
| 金属
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| 涂层
| 涂层
| 可接触的外壳
| 可接触的外壳
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|-
| 3
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| 金属
| 金属
| 金属
| 金属
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| 外壳和涂层
| 外壳和涂层
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| style="vertical-align:middle;" | 4
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| style="vertical-align:middle;" | 绝缘
| 绝缘
| style="vertical-align:middle;" | 无
| 无
| style="vertical-align:middle;" | *
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| style="background-color:#F0F0F0;" | -
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| style="vertical-align:middle;" | 5
| 5
| style="vertical-align:middle;" | 绝缘
| 绝缘
| style="vertical-align:middle;" | 绝缘
| 绝缘
| style="vertical-align:middle;" | 涂层
| 涂层
| -
|  
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| 6
| 绝缘
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|  
| 涂层
|-
|-
| style="vertical-align:middle;" | 6
| style="vertical-align:middle;" | 绝缘
| style="vertical-align:middle;" | 金属
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| style="vertical-align:middle;" | 涂层
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| colspan="5" | 注:若连接器插脚有防静电放电涂层,涂层或设备上采用涂层的连接器附近宜有静电放电警告标签。
| colspan="5" | 注:若连接器插脚有防静电放电涂层,涂层或设备上采用涂层的连接器附近宜有静电放电警告标签。
|- style="vertical-align:middle;"
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| colspan="5" | *若产品(类)标准要求对绝缘连接器的各个插脚进行试验,应采用空气放电。
| colspan="5" | *若产品(类)标准要求对绝缘连接器的各个插脚进行试验,应采用空气放电。
|}
|}
第703行: 第703行:


当实施放电的时候,发生器的放电回路电缆与受试设备的距离至少应保持0.2 m, 并且操作者不能
当实施放电的时候,发生器的放电回路电缆与受试设备的距离至少应保持0.2 m, 并且操作者不能




第754行: 第753行:
由制造商提出的技术规范可以规定对受试设备产生的某些影响是不重要的,因而是可接受的试验 影响。
由制造商提出的技术规范可以规定对受试设备产生的某些影响是不重要的,因而是可接受的试验 影响。


这种分类可以由负责相关产品的通用标准、产品标准和产品类标准的专业标准化技术委员会作为 明确表达功能准则的指南。在没有合适的通用、产品或产品类标准时,可作为制造商和购买方协商的性
这种分类可以由负责相关产品的通用标准、产品标准和产品类标准的专业标准化技术委员会作为 明确表达功能准则的指南。在没有合适的通用、产品或产品类标准时,可作为制造商和购买方协商的性能规范的框架。
 
 
 
能规范的框架。


== 10 试验报告 ==
== 10 试验报告 ==
第764行: 第759行:
试验报告应包括能重现试验的全部信息。特别是下列内容:
试验报告应包括能重现试验的全部信息。特别是下列内容:


— — 第8章要求的在试验计划中规定的项目内容;
——第8章要求的在试验计划中规定的项目内容;


——受试设备和辅助设备的标识,例如商标、产品型号、序列号;
——受试设备和辅助设备的标识,例如商标、产品型号、序列号;
第770行: 第765行:
——试验设备的标识,例如商标,产品型号,序列号;
——试验设备的标识,例如商标,产品型号,序列号;


— — 任何进行试验所需的专门环境条件,例如屏蔽室;
——任何进行试验所需的专门环境条件,例如屏蔽室;


— — 进行试验所需的任何特定条件;
——进行试验所需的任何特定条件;


— — 制造商、委托方或购买方规定的性能水平;
——制造商、委托方或购买方规定的性能水平;


——在通用、产品或产品类标准中规定的性能要求;
——在通用、产品或产品类标准中规定的性能要求;


—— 试验时在骚扰施加期间及以后观察到的对受试设备的任何影响, 及其 持续时间;
——试验时在骚扰施加期间及以后观察到的对受试设备的任何影响, 及其 持续时间;


— 试验通过/失败的判断原因(根据通用标准、产品标准或产品类标准 规 定的性 能 判 据 或 制 造 商 和 购 买 方达成的协议);
——试验通过/失败的判断原因(根据通用标准、产品标准或产品类标准 规 定的性 能 判 据 或 制 造 商 和 购 买 方达成的协议);


— 采用的任何特殊条件,例如电缆长度或类型,屏蔽或接地,或受试设备 运行条件,均要符合 规 定 ;
——采用的任何特殊条件,例如电缆长度或类型,屏蔽或接地,或受试设备 运行条件,均要符合 规 定 ;


—— 气 候 条 件 ;
—— 气 候 条 件 ;
第789行: 第784行:




 
== 附 录 A ==
附 录 A


(资料性附录) 说 明
(资料性附录) 说 明


A.1 一般的考虑
=== A.1 一般的考虑 ===


保护设备免受静电放电影响的问题对制造厂和用户来说都是相当重要的。
保护设备免受静电放电影响的问题对制造厂和用户来说都是相当重要的。
第815行: 第809行:


视合成纤维的种类和环境的相对湿度而定,设备直接遭受放电的电压值可能高达几千伏。
视合成纤维的种类和环境的相对湿度而定,设备直接遭受放电的电压值可能高达几千伏。




第823行: 第815行:
图 A.1 与 A.2 所提到的材料接触时操作者可能被充电静电电压的最大值
图 A.1 与 A.2 所提到的材料接触时操作者可能被充电静电电压的最大值


A.3 环境级别与空气和接触放电的关系
=== A.3 环境级别与空气和接触放电的关系 ===


作为一种可测量的量,一直将实际环境中得到的静电电压电平作为抗扰度要求,但是,现已证明,能 量转移与其说是放电之前存在的静电电压的函数,不如说是放电电流的函数。此外,还发现在较高的电 压电平范围内,放电电流一般不与预放电电压成正比。
作为一种可测量的量,一直将实际环境中得到的静电电压电平作为抗扰度要求,但是,现已证明,能 量转移与其说是放电之前存在的静电电压的函数,不如说是放电电流的函数。此外,还发现在较高的电 压电平范围内,放电电流一般不与预放电电压成正比。
第829行: 第821行:
预放电电压与放电电流之间的非正比关系的可能原因是:
预放电电压与放电电流之间的非正比关系的可能原因是:


—高压电荷的放电一般经过使上升时间增加的长电弧通道来实现,因此使得放电电流中的高频 分量低于与预放电电压成正比例的值。
——高压电荷的放电一般经过使上升时间增加的长电弧通道来实现,因此使得放电电流中的高频 分量低于与预放电电压成正比例的值。


——假定在一个典型的充电过程中充电量为常数,那么高充电电压电平更可能出现在小电容量的 情况,反之,大电容两端的高充电电压则需有一系列连续发生的过程,而它不太可能发生,这意 味着用户环境中所获得的高充电电压下电荷能量有变成稳定的趋向。
——假定在一个典型的充电过程中充电量为常数,那么高充电电压电平更可能出现在小电容量的 情况,反之,大电容两端的高充电电压则需有一系列连续发生的过程,而它不太可能发生,这意 味着用户环境中所获得的高充电电压下电荷能量有变成稳定的趋向。
第837行: 第829行:
弄清了这个概念后,测试装置的设计就变得容易了。可通过对充电电压和放电阻抗的合理选择得 到所希望的放电电流幅值。
弄清了这个概念后,测试装置的设计就变得容易了。可通过对充电电压和放电阻抗的合理选择得 到所希望的放电电流幅值。


A.4 试验等级的选择
=== A.4 试验等级的选择 ===


试验等级应按照最切合实际的安装和环境条件来选择,表 A.1 中提供了一个指导原则。
试验等级应按照最切合实际的安装和环境条件来选择,表 A.1 中提供了一个指导原则。




第892行: 第883行:
在试验设备具有绝缘表面的情况下,年 使 用地 压高达15kV 的空气放电方 法。
在试验设备具有绝缘表面的情况下,年 使 用地 压高达15kV 的空气放电方 法。


A.5 试验点的选择
=== A.5 试验点的选择 ===


例如,所考虑的试验点可 包括以下位置
例如,所考虑的试验点可 包括以下位置
第900行: 第891行:
——控 制 或键盘区域任何点和天机通讯的其他任何点: 如 开 关 键 旋 钮按钮指示器、发光二极管 (LED) 、 缝隙、栅格、连接器罩等以及其低 操作人员易于接近的区域。
——控 制 或键盘区域任何点和天机通讯的其他任何点: 如 开 关 键 旋 钮按钮指示器、发光二极管 (LED) 、 缝隙、栅格、连接器罩等以及其低 操作人员易于接近的区域。


A.6 使用接触放电方法的技术原理
=== A.6 使用接触放电方法的技术原理 ===


一般而言,上述试验方法( 空气放电)的再现性受放电头接近速度,湿度和武验设备结构的影响,并 导致脉冲上升时间、放电电流幅度的差异。
一般而言,上述试验方法( 空气放电)的再现性受放电头接近速度,湿度和武验设备结构的影响,并 导致脉冲上升时间、放电电流幅度的差异。
第919行: 第910行:




 
=== A.7 静电放电发生器元件的选择 ===
A.7 静电放电发生器元件的选择


人体电容量的储能电容器,该电容量标称值为150 pF。
人体电容量的储能电容器,该电容量标称值为150 pF。
第926行: 第916行:
为表示人体握有某个如钥匙或工具等金属物时的源电阻可选用一个330Ω的电阻,现已证明,这种 金属放电情况足以严格地表示现场的各种人员的放电。
为表示人体握有某个如钥匙或工具等金属物时的源电阻可选用一个330Ω的电阻,现已证明,这种 金属放电情况足以严格地表示现场的各种人员的放电。


A.8 关于发生器规范的基本原理
=== A.8 关于发生器规范的基本原理 ===


当对实际受试设备施加静电放电试验时,假定有很多原因是造成复现性试验的差异。试验配置,校 准问题等,已被考虑并在本部分提出
当对实际受试设备施加静电放电试验时,假定有很多原因是造成复现性试验的差异。试验配置,校 准问题等,已被考虑并在本部分提出
第948行: 第938行:
——使用不同的静电放电发生器进行测试时,所关注的受式设备受到影响的试验电平有所不同;
——使用不同的静电放电发生器进行测试时,所关注的受式设备受到影响的试验电平有所不同;


在时域和频域中,修改的放电波形的确改善了放电电流波形;
——在时域和频域中,修改的放电波形的确改善了放电电流波形;


然而,新的波形没有给实际受试样品测试结果的复现性带来任何显著改善
——然而,新的波形没有给实际受试样品测试结果的复现性带来任何显著改善


已考虑了第二个原因然而,在不能保证辐射电场这个参数就是引起复现性问题原因的情况下,要 进行进一步系列测试需要耗费很大资源。量化辐射场对实际受试样品的影响和了解如何控制影响测试 结果复现性的相关参数还需大量的技术研究。
已考虑了第二个原因然而,在不能保证辐射电场这个参数就是引起复现性问题原因的情况下,要 进行进一步系列测试需要耗费很大资源。量化辐射场对实际受试样品的影响和了解如何控制影响测试 结果复现性的相关参数还需大量的技术研究。
第957行: 第947行:




 
== 附 录 B ==
附 录 B


(规范性附录)
(规范性附录)
第964行: 第953行:
电流测量系统的校准和放电电流测量
电流测量系统的校准和放电电流测量


B.1 电流靶规范——输入阻抗
=== B.1 电流靶规范——输入阻抗 ===


用来测量 ESD 发生器放电电流的同轴电流靶的输入阻抗(在内电极和地之间测量),在直流情况不 应大于2. 1Ω。
用来测量 ESD 发生器放电电流的同轴电流靶的输入阻抗(在内电极和地之间测量),在直流情况不 应大于2. 1Ω。


注1:靶是设计用于测量注入到理想接地平面的静电放电电流。为了减少由理想导电平面和靶的输入阻抗之间的 差异造成的误差,输入阻抗被限制在2.1Ω。但是如果靶的输入阻抗过低,输出信号将会非常小,由于耦合到 电缆和示波器的原因造成误差。此外,当使用一个过低的电阻值时,寄生电感变得更加严重。
注1:靶是设计用于测量注入到理想接地平面的静电放电电流。为了减少由理想导电平面和靶的输入阻抗之间的 差异造成的误差,输入阻抗被限制在2.1Ω。但是如果靶的输入阻抗过低,输出信号将会非常小,由于耦合到电缆和示波器的原因造成误差。此外,当使用一个过低的电阻值时,寄生电感变得更加严重。


注2:输入阻抗和转移阻抗(Z,B.3) 可在直流或低频率下高精度测量得到。
注2:输入阻抗和转移阻抗(Z,B.3) 可在直流或低频率下高精度测量得到。


B.2 电流靶规范——插入损耗
=== B.2 电流靶规范——插入损耗 ===


B.2.1 测量链
B.2.1 测量链
第984行: 第973行:
±1.2 dB,1 GHz~4 GHz
±1.2 dB,1 GHz~4 GHz


于S21插入损耗的标称值为:
于S<sub>21</sub>插入损耗的标称值为:


Sa₁=20 log[2Zy/(Rm+502)]dB,Rm是靶-衰减器-电缆链带50Ω负载的直流输入阻抗。
Sa=20 log[2Zy/(Rm+50 Ω)]dB,Rm是靶-衰减器-电缆链带50Ω负载的直流输入阻抗。


注1:不同的校准时间间隔可用于直流传输阻抗和更多涉及到插入阻抗的计算。如果一个重复的直流传输阻抗测 量结果表明它和原来的测量结果相差不到1%,如果使用了相同的电缆和衰减器而没有其他迹象(例如连接 器松动或损坏),用户可以认定靶-衰减器-电缆链的插入损耗没有变化。
注1:不同的校准时间间隔可用于直流传输阻抗和更多涉及到插入阻抗的计算。如果一个重复的直流传输阻抗测 量结果表明它和原来的测量结果相差不到1%,如果使用了相同的电缆和衰减器而没有其他迹象(例如连接 器松动或损坏),用户可以认定靶-衰减器-电缆链的插入损耗没有变化。
第995行: 第984行:


图 B.1 显示靶适配线连接了50Ω的同轴电缆至静电放电电流靶的输入。几何上来说,能很顺利的 扩大同轴电缆的直径至靶的直径。如果靶的制造按照直径比“d”至“D”( 见 图 B.2)来计算插入阻抗而 不等于50Ω时,靶适配线应被做成内部导体的外直径等于电流靶内电极的直径。用填充锥形适配线的 材料(通常为空气)的介电常数来计算阻抗。靶适配线应在4 GHz 带宽下保持(50±1)Ω。两个面对面 放置的靶适配线的回波损耗至1 GHz 时应优于30 dB, 至4 GHz 时,应优于20 dB, 总插入损耗至4 GHz 时应少于0.3 dB。
图 B.1 显示靶适配线连接了50Ω的同轴电缆至静电放电电流靶的输入。几何上来说,能很顺利的 扩大同轴电缆的直径至靶的直径。如果靶的制造按照直径比“d”至“D”( 见 图 B.2)来计算插入阻抗而 不等于50Ω时,靶适配线应被做成内部导体的外直径等于电流靶内电极的直径。用填充锥形适配线的 材料(通常为空气)的介电常数来计算阻抗。靶适配线应在4 GHz 带宽下保持(50±1)Ω。两个面对面 放置的靶适配线的回波损耗至1 GHz 时应优于30 dB, 至4 GHz 时,应优于20 dB, 总插入损耗至4 GHz 时应少于0.3 dB。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图B.1靶适配线连接到电流靶的实例.jpeg|400px]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图B.1靶适配线连接到电流靶的实例.jpeg|400px]]


注:除了圆锥形,可接受其他形状。
注:除了圆锥形,可接受其他形状。
第1,009行: 第994行:
说 明 :
说 明 :


pd——内电极外径; φD——地结构内径。
bd——内电极外径; *D——地结构内径。


图 B.2 电流靶正面图实例
图 B.2 电流靶正面图实例
第1,032行: 第1,017行:


插入损耗的变化应满足 B.2 的要求。
插入损耗的变化应满足 B.2 的要求。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图B.3电流靶-衰减器-电缆链插入损耗测量的实例.jpeg|400px]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图B.3电流靶-衰减器-电缆链插入损耗测量的实例.jpeg|400px]]
第1,045行: 第1,028行:
在一次静电放电测量中如果靶的输入 就为 I 示波器显示的电压为Vocs。从显示的电压来计 算未知的电流,电压被低频率系统的转移阻抗Z,分压了。
在一次静电放电测量中如果靶的输入 就为 I 示波器显示的电压为Vocs。从显示的电压来计 算未知的电流,电压被低频率系统的转移阻抗Z,分压了。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图B.4确定低频系统转换阻抗的电路图.jpeg|400px]]


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图B.4确定低频系统转换阻抗的电路图.jpeg|400px]]
图 B.4 确定低频系统转换阻抗的电路图
图 B.4 确定低频系统转换阻抗的电路图


第1,058行: 第1,040行:
● Zsys是发生器校准的关键参数。50Ω负载的最大误差为±1%。
● Zsys是发生器校准的关键参数。50Ω负载的最大误差为±1%。


● 测量通过50Ω精密负载的电压Vso。


●通过如下公式来计算转移阻抗:
<math>Z_{y}=\frac{V_{50}}{I_{y}}</math>


注2:为了验证热电压不影响结果,测量可以分别用正负电流。两个结果之间相差小于0.5%。 可用其他方法来确定整个靶-衰减器-电缆链的转移参数。
注2:为了验证热电压不影响结果,测量可以分别用正负电流。两个结果之间相差小于0.5%。 可用其他方法来确定整个靶-衰减器-电缆链的转移参数。


B.4 静电放电发生器的校准
B.4 静电放电发生器的校准
第1,084行: 第1,068行:
● 测量至少 1 5kY 电 压的高压计。可能需要使用一个静电电压表来避免带载的输出电压;
● 测量至少 1 5kY 电 压的高压计。可能需要使用一个静电电压表来避免带载的输出电压;


●安装在垂直校准平面的同轴电流靶、靶和平面的任何边缘至少有0.6m;
● 安装在垂直校准平面的同轴电流靶、靶和平面的任何边缘至少有0.6m;


● 衰减器需要有足够的功 率
● 衰减器需要有足够的功 率
第1,094行: 第1,078行:
电流靶应安装在满足 B.4.2 的垂直校准平面中心。静电放电发生器的放电回路电缆(接地线)应连接在平面中心底部低于靶 0.5 m 处,接地线应在电缆中心向后拉,形成一个等腰三角形。校准时,接地线不应平放在地板上。
电流靶应安装在满足 B.4.2 的垂直校准平面中心。静电放电发生器的放电回路电缆(接地线)应连接在平面中心底部低于靶 0.5 m 处,接地线应在电缆中心向后拉,形成一个等腰三角形。校准时,接地线不应平放在地板上。
安装如下步骤验证静电放电发生器的电流波形是否符合规范。记录波的形状和测量如下参数:
安装如下步骤验证静电放电发生器的电流波形是否符合规范。记录波的形状和测量如下参数:
I<sub>p</sub> 峰值放电电流,单位为安培(A);
I,峰值放电电流,单位为安培(A);
I<sub>30</sub> 从到达峰值电流 I<sub>p</sub>的 0.1 倍电流值处开始,30 ns 后的电流值,单位为安培(A);
Im从到达峰值电流 I,的 0.1 倍电流值处开始,30 ns 后的电流值,单位为安培(A);
I<sub>60</sub> ​从到达峰值电流 I<sub>p</sub>的 0.1 倍电流值处开始,60 ns 后的电流值,单位为安培(A);
I...从到达峰值电流 I。的 0.1 倍电流值处开始,60 ns 后的电流值,单位为安培(A);
t<sub>r</sub> 电流的上升时间,单位为纳秒(ns)。
t,电流的上升时间,单位为纳秒(ns)。


表 B.1 接触放电校准程序
表 B.1 接触放电校准程序
第1,109行: 第1,093行:
| 所有5次放电应满足规格
| 所有5次放电应满足规格
|-
|-
| 测量每个波形的I<sub>p</sub>,I<sub>30</sub>,I<sub>60</sub>,t<sub>r</sub>
| 测量每个波形的I。,I,Imt
| 对每个测试等级的参数都应检查
| 对每个测试等级的参数都应检查
|- style="background-color:#F0F0F0;"
|- style="background-color:#F0F0F0;"
第1,129行: 第1,113行:


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图 B.5静电放电发生器性能校准的典型配置.jpeg|400px]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图 B.5静电放电发生器性能校准的典型配置.jpeg|400px]]


注1:发生器宜安装在三脚架或等效的非金属低损耗的支撑物上。
注1:发生器宜安装在三脚架或等效的非金属低损耗的支撑物上。
第1,148行: 第1,131行:




 
== 附 录 C ==
附 录 C


(资料性附录)
(资料性附录)
第1,164行: 第1,146行:


图 C.1 同轴靶的机械图
图 C.1 同轴靶的机械图




第1,177行: 第1,157行:
说 明 :
说 明 :


电 阻 尺 寸 — — 0 8 0 5 ;
电 阻 尺 寸 —— 0805 ;


电 阻 值 ——51Ω;
电 阻 值 ——51Ω;


位 置 — — 能 被 接 触 的 , 完 全 对 称 的 ( 使 用 模 板 ) ;
位 置 —— 能 被 接 触 的 , 完 全 对 称 的 ( 使 用 模 板 ) ;


材 质 ———0.5 mm FR-4,镀 金 ;
材 质 ——0.5 mm FR-4,镀 金 ;


过 孔 — — 电 阻 每 边 的 两 个 孔 环 连 接 到 印 刷 电 路 板 的 外 缘 孔 。 大 约 需 要 2 5 个 电 阻 。
过 孔 —— 电 阻 每 边 的 两 个 孔 环 连 接 到 印 刷 电 路 板 的 外 缘 孔 。 大 约 需 要 2 5 个 电 阻 。


图 C.2 同轴靶的机械图
图 C.2 同轴靶的机械图




第1,196行: 第1,173行:


图 C.3 同轴靶的机械图
图 C.3 同轴靶的机械图




第1,203行: 第1,178行:


图 C.4 同轴靶的机械图
图 C.4 同轴靶的机械图




第1,213行: 第1,185行:




 
== 附 录 D ==
附 录 D


(资料性附录)
(资料性附录)
第1,220行: 第1,191行:
人体金属放电和静电放电发生器产生的辐射场
人体金属放电和静电放电发生器产生的辐射场


D.1 试验过程中产生的有意无意场概述
=== D.1 试验过程中产生的有意无意场概述 ===


D.1.1 总 则
D.1.1 总 则
第1,232行: 第1,203行:
人对受试设备 所产 生的静电放电,会发生下面一系列的事件:
人对受试设备 所产 生的静电放电,会发生下面一系列的事件:


a) 当手排金属片接近受试设备的金属表面,在放电电流产生前,静电场就存在了。这个时候没有
a) 当手排金属片接近受试设备的金属表面,在放电电流产生前,静电场就存在了。这个时候没有(或十分少电流流动,也不存在相关的磁场
 
(或十分少电流流动,也不存在相关的磁场
 
b) 手持金属部件与受试设备之间一旦开始放电,两者之间放电间隙内的静电场骤然下降。在


50 ps~5ns的时间内,放电间隙两端电压从初始值骤然下降至大约25 V40V。 骤然下降 的时间取决于电弧参数电压等。电场的骤然下除是引起强瞬变电磁场的一系列事件中的第 一步 。
b) 手持金属部件与受试设备之间一旦开始放电,两者之间放电间隙内的静电场骤然下降。在50 ps~5ns的时间内,放电间隙两端电压从初始值骤然下降至大约25 V40V。 骤然下降 的时间取决于电弧参数电压等。电场的骤然下除是引起强瞬变电磁场的一系列事件中的第 一步 。


c) 电流开始在人手持金属部分和受试设备上流动。初始电流以光速扩展并在大约8 ns 内到达 人的胳膊。电流在受试设备和胳膊持续软展由 于 辐射 和 电 阻 的 原 因,会发生反射和衰减,导 致在受试设备和人两者上有电流密度的复杂型态
c) 电流开始在人手持金属部分和受试设备上流动。初始电流以光速扩展并在大约8 ns 内到达 人的胳膊。电流在受试设备和胳膊持续软展由 于 辐射 和 电 阻 的 原 因,会发生反射和衰减,导 致在受试设备和人两者上有电流密度的复杂型态
第1,248行: 第1,215行:
f) 从天线理论可知,变化的电荷密度和变化的电流将产生辐射场。近距离场由电流和电荷直接 决定,距离上更远的场则由电流和电荷对时间的导数决定。近距离场(近场)和在更远距离观 察到的场(远场)之间的转换区域,情况更复杂。测量和仿真结果表明:至少在具有最多干扰的 前几纳秒里,静电放电的瞬态场将在距离电弧10 cm 处达到远场条件。
f) 从天线理论可知,变化的电荷密度和变化的电流将产生辐射场。近距离场由电流和电荷直接 决定,距离上更远的场则由电流和电荷对时间的导数决定。近距离场(近场)和在更远距离观 察到的场(远场)之间的转换区域,情况更复杂。测量和仿真结果表明:至少在具有最多干扰的 前几纳秒里,静电放电的瞬态场将在距离电弧10 cm 处达到远场条件。


g) 由上所述显然可见,在考虑关于电子系统非破坏性故障时,电流和电荷对时间的导数是极其重
g) 由上所述显然可见,在考虑关于电子系统非破坏性故障时,电流和电荷对时间的导数是极其重要 的 。
 
的 。


h) 重要的是,在人体放电中,电流和电荷对时间的导数是由电弧内电压的突降时间决定的。因 此,放电电流的上升时间决定了高频分量。
h) 重要的是,在人体放电中,电流和电荷对时间的导数是由电弧内电压的突降时间决定的。因 此,放电电流的上升时间决定了高频分量。


总之,人体-金属静电放电的瞬态场是静电放电过程的重要部分。理想的静电放电发生器,应能够 以一定量化方式重现瞬态场。至于人体-金属静电放电的场强等参量,已为业界所熟悉。
总之,人体-金属静电放电的瞬态场是静电放电过程的重要部分。理想的静电放电发生器,应能够 以一定量化方式重现瞬态场。至于人体-金属静电放电的场强等参量,已为业界所熟悉。




第1,272行: 第1,236行:
e) 电压的骤然下降时间小于100 ps,但此标准要求在靶的接触点测得的电流上升时间为(0.8±0.2)ns .为了 达到 此目标,静电放电发生器里采取了措施,使得继电器内非常低的上升时间值 在放电尖端达到标准值。
e) 电压的骤然下降时间小于100 ps,但此标准要求在靶的接触点测得的电流上升时间为(0.8±0.2)ns .为了 达到 此目标,静电放电发生器里采取了措施,使得继电器内非常低的上升时间值 在放电尖端达到标准值。


f) 瞬态场是由所有电流和电荷密度对时间导数引起的。发生器产生的放电和人持金属产生的放
f) 瞬态场是由所有电流和电荷密度对时间导数引起的。发生器产生的放电和人持金属产生的放电有一点重要区别要注意:对于人体放电,电弧上电流的上升时间是最快的过程,而且它决定 了睡态场的频谱。然而,静电放电发生器接触放电模式下的高频频谱取决于继电器电压的塌 缩,而不是放电 尖端的电流上升 时间
 
电有一点重要区别要注意:对于人体放电,电弧上电流的上升时间是最快的过程,而且它决定 了睡态场的频谱。然而,静电放电发生器接触放电模式下的高频频谱取决于继电器电压的塌 缩,而不是放电 尖端的电流上升 时间
 
g) 由于发生器中所有变化的电流引起瞬态场,继电器100 ps 的上升电流会引起静电放电发生 器的瞬态场,放电点 0.810.2) ns 上升电流也会引起瞬态场。发生器中由便快事件引起的 瞬态场通常不是期望的瞬态场,因为它们增加的辐射场高频分量超过了由在放电点上具有相


同的电流上升时间和峰值的等效人至金属放电所产生的辐射场高频分量。
g) 由于发生器中所有变化的电流引起瞬态场,继电器100 ps 的上升电流会引起静电放电发生 器的瞬态场,放电点 0.810.2) ns 上升电流也会引起瞬态场。发生器中由便快事件引起的 瞬态场通常不是期望的瞬态场,因为它们增加的辐射场高频分量超过了由在放电点上具有相同的电流上升时间和峰值的等效人至金属放电所产生的辐射场高频分量。


综上所示,快速上升电流对瞬态场的影响程度依赖于静电放电发生器的设计。在任何给定的发生 器中,这个场的影 响可能 被抑制得很好或者也可能来决定瞬态场。本部分不规定这些因素,可能会造成 静电放电试验中的故障事件高度依赖于所使用的特定发生器。
综上所示,快速上升电流对瞬态场的影响程度依赖于静电放电发生器的设计。在任何给定的发生 器中,这个场的影 响可能 被抑制得很好或者也可能来决定瞬态场。本部分不规定这些因素,可能会造成 静电放电试验中的故障事件高度依赖于所使用的特定发生器。
第1,299行: 第1,259行:


在这个例子中,最有可能的是静电放电事件的瞬态场耦合到印制线、线缆或直接进入系统的 IC, 引 起的电压或电流会扰乱系统的逻辑功能。
在这个例子中,最有可能的是静电放电事件的瞬态场耦合到印制线、线缆或直接进入系统的 IC, 引 起的电压或电流会扰乱系统的逻辑功能。


甚至在如20 cm 这样的适当距离,静电放电发生器内的电流到场的耦合机制是由电流时间导数决 定的。此外,场和受试样品中线、印制线或IC 的耦合是 一个电场和磁场的变化率的函数。总结:包括场 建立中和感应过程中的时间导数造成了注入电流,这导致了放电尖端不同的电流脉冲波形和由场造成 的印线里不同的感应电压。典型的印线里感应电压宽度比本部分提及的静电放电初始电流窄得多,而 且它们可能会现出振铃性。
甚至在如20 cm 这样的适当距离,静电放电发生器内的电流到场的耦合机制是由电流时间导数决 定的。此外,场和受试样品中线、印制线或IC 的耦合是 一个电场和磁场的变化率的函数。总结:包括场 建立中和感应过程中的时间导数造成了注入电流,这导致了放电尖端不同的电流脉冲波形和由场造成 的印线里不同的感应电压。典型的印线里感应电压宽度比本部分提及的静电放电初始电流窄得多,而 且它们可能会现出振铃性。
第1,308行: 第1,266行:
D.3 静电放电瞬态场的参考事件
D.3 静电放电瞬态场的参考事件


已测量的人体金属静电放电瞬态场在5 kV 电压时的上升时间为850 ps。 一 个理想的静电放电发 生 器 宜 能 在 5 kV 接触模式试验下重现瞬态场。为了获取数据,宽带场强探头(1 .5 MHz~1.5 GHz为±1 dB)要放置在垂直参考平面上距离放电点(即靶位置)0 . 1 m 处(见图 D.1)。
已测量的人体金属静电放电瞬态场在5 kV 电压时的上升时间为850 ps。 一 个理想的静电放电发 生 器 宜 能 在 5 kV 接触模式试验下重现瞬态场。为了获取数据,宽带场强探头(1 .5 MHz~1.5 GHz为±1 dB)要放置在垂直参考平面上距离放电点(即靶位置)0.1 m 处(见图 D.1)。
 


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图 D.1 充电电压5kV,测量距离 0.1m,弧长0.7mm,人持金属放电时的实测电场.jpeg|400px]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图 D.1 充电电压5kV,测量距离 0.1m,弧长0.7mm,人持金属放电时的实测电场.jpeg|400px]]
第1,318行: 第1,275行:


图 D.2 是基于上升时间500 ps 放电电流的磁场的实例。
图 D.2 是基于上升时间500 ps 放电电流的磁场的实例。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图 D.2 充电电压5kV,测量距离0.1m,弧长0.5 mm,人持金属放电时的实测磁场.jpeg|400px]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图 D.2 充电电压5kV,测量距离0.1m,弧长0.5 mm,人持金属放电时的实测磁场.jpeg|400px]]
第1,332行: 第1,287行:


静电放电产生的瞬态场会在PCB 上的印制线上产生感应电压。如果把一个小环放置在接地平面 上,瞬态场高频分量可以无需校准的宽带场强探头就可测量推导出,而且这比场测量更加直接的反应了 感应到印线过程。图 D.3 给出了试验布置。
静电放电产生的瞬态场会在PCB 上的印制线上产生感应电压。如果把一个小环放置在接地平面 上,瞬态场高频分量可以无需校准的宽带场强探头就可测量推导出,而且这比场测量更加直接的反应了 感应到印线过程。图 D.3 给出了试验布置。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图D.3 接地平面上的半圆环.jpeg|400px]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图D.3 接地平面上的半圆环.jpeg|400px]]
第1,340行: 第1,293行:


图 D.3 中环的半径是14 mm 。线的直径是0.7 mm 。环放置在距静电放电发生器0.1m 处。
图 D.3 中环的半径是14 mm 。线的直径是0.7 mm 。环放置在距静电放电发生器0.1m 处。




图 D.4 所示是人金属静电放电的典型感应电压在5 kV、上升时间大概在850 ps
图 D.4 所示是人金属静电放电的典型感应电压在5 kV、上升时间大概在850 ps




第1,362行: 第1,313行:


为了测量电场和磁场,应使用下列仪器:
为了测量电场和磁场,应使用下列仪器:




第1,401行: 第1,351行:
● 依据V(w)/T(w) 的傅里叶反变换计算E(t) 和 H(t)。
● 依据V(w)/T(w) 的傅里叶反变换计算E(t) 和 H(t)。


图 D.6 和 D.7 给出了一些结果。使用数值仿真数据是用来验证由环上测得电压降数据计算磁场的
图 D.6 和 D.7 给出了一些结果。使用数值仿真数据是用来验证由环上测得电压降数据计算磁场的过程,反之亦然。
 
过程,反之亦然。




第1,409行: 第1,357行:


图 D.6 在距离环45 cm 处的电压降实测(实线)和数值仿真(点线)的比较(感应电压)
图 D.6 在距离环45 cm 处的电压降实测(实线)和数值仿真(点线)的比较(感应电压)




第1,434行: 第1,381行:


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图D.8辐射场结构示意和等效电路图.jpeg|400px]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB 17626.2-2018_图D.8辐射场结构示意和等效电路图.jpeg|400px]]
图 D.8 辐射场结构示意和等效电路图
图 D.8 辐射场结构示意和等效电路图




第1,444行: 第1,391行:
r=45 cm 处的磁场辐射。
r=45 cm 处的磁场辐射。


实线~~——~~测量值;
实线——测量值;


点线~~——~~  由I/(2πr) 计算;
点线——由I/(2πr) 计算;


I是测得的静电放电电流。
I是测得的静电放电电流。
第1,458行: 第1,405行:




附 录 E
== 附 录 E ==


(资料性附录)
(资料性附录)
第1,464行: 第1,411行:
测量不确定度(MU) 的考虑
测量不确定度(MU) 的考虑


E.1 总 则
=== E.1 总 则 ===


EMC 试验的重复性取决于影响试验结果的许多因素或影响量。这些影响量带来了误差,产生的骚 扰量可以分为随机效应或系统效应。本部分中定义的骚扰量值和实际骚扰量值的符合性通常由一系列 的测量确定(例如用带衰减器的示波器测量上升时间)。每个测量结果只是被测量的近似值,由于测量 不确定度的原因,测量值在一定程度上不同于真值。决定不确定度的关键因素是与试验仪器相关的校 准不确定度。
EMC 试验的重复性取决于影响试验结果的许多因素或影响量。这些影响量带来了误差,产生的骚 扰量可以分为随机效应或系统效应。本部分中定义的骚扰量值和实际骚扰量值的符合性通常由一系列 的测量确定(例如用带衰减器的示波器测量上升时间)。每个测量结果只是被测量的近似值,由于测量 不确定度的原因,测量值在一定程度上不同于真值。决定不确定度的关键因素是与试验仪器相关的校 准不确定度。
第1,477行: 第1,424行:


——A 类:用统计的方法评定,估算一系列的试验标准差。它们通常服从正态或高斯分布。
——A 类:用统计的方法评定,估算一系列的试验标准差。它们通常服从正态或高斯分布。
'''(此处表格以截图代替)'''
{| class="wikitable"
|-
! 分布
! 合成不确定度
! 备注
|-
| 正态或高斯
| <math>U_{\mathrm{C}}(y)=\sqrt{\frac{1}{(n-1)}\sum_{j=1}^{n}(u_{j}-\overline{u})^{2}}</math>
| 通常来自验证记录
|}


——B 类:由其他方法评定。它们通常与失 配 、电缆损耗以及仪器非线性特性相关。可以基于校准 数据,仪器制造商的规范或简单的通过知识和经验在分析中评估 B 类不确定度的大小和 分 布 。
——B 类:由其他方法评定。它们通常与失 配 、电缆损耗以及仪器非线性特性相关。可以基于校准 数据,仪器制造商的规范或简单的通过知识和经验在分析中评估 B 类不确定度的大小和 分 布 。
第1,483行: 第1,439行:
对 A 类 和B 类进行分类并不意味这两部分有本质上的差异,只是基于其评估性质的区分。两种类 型都可以具有概率分布且任一类型所导致的不确定度分量均可用标准差量化。
对 A 类 和B 类进行分类并不意味这两部分有本质上的差异,只是基于其评估性质的区分。两种类 型都可以具有概率分布且任一类型所导致的不确定度分量均可用标准差量化。


E.3 局限
=== E.3 局限 ===


以下局限和条件用于本文中的考量:
以下局限和条件用于本文中的考量:


● 不确定度报告局限于测量仪器造成的不确定度(B 类不确定度)。然而,这并不意味着试验室要 忽略 A 类不确定度的影响,而是宜由每个测试实验室独立评估,以此更全面地获得它们的测量
● 不确定度报告局限于测量仪器造成的不确定度(B 类不确定度)。然而,这并不意味着试验室要 忽略 A 类不确定度的影响,而是宜由每个测试实验室独立评估,以此更全面地获得它们的测量不确定度。
 
 
 
不确定度。


● 假设所有的贡献量互不相关。
● 假设所有的贡献量互不相关。
第1,525行: 第1,477行:
计算任何试验的合成标准不确定度都涉及合成单个标 准 不确定度,当所有数量单位相同,互不相 关,且在对数刻度下相加时合成是有效的。然硕静电放电校准和测量的单位需用百分数给出;计算公 式为:
计算任何试验的合成标准不确定度都涉及合成单个标 准 不确定度,当所有数量单位相同,互不相 关,且在对数刻度下相加时合成是有效的。然硕静电放电校准和测量的单位需用百分数给出;计算公 式为:


 
<math>10^{\frac{(unit_in_dB)}{20}}\times100</math>


计算的结果是合成标准不 确定度:n( y )
计算的结果是合成标准不 确定度:n( y )


<math>u_c(y)=\sqrt{\sum_{i=1}^mu_i^2(y)}</math>


 
u,(y) 定 义为单个 标准 不 确定 度。
u;(y) 定 义为单个 标准 不 确定 度。


假设输出变量v 服从正态分布,其不确定度的包含因子(即乘数)由学生t 分布给出。
假设输出变量v 服从正态分布,其不确定度的包含因子(即乘数)由学生t 分布给出。


ue(y) 通过乘以一个 包含因 子(k) 得到一个置信度更高的扩展不确定度U 。包含因子通过自由度 获得,根据A 类 和 B 类不 确定度之间的关系计算。
u.(y) 通过乘以一个 包含因 子(k) 得到一个置信度更高的扩展不确定度U 。包含因子通过自由度 获得,根据A 类 和 B 类不 确定度之间的关系计算。


E.5 不确定度报告的编制
E.5 不确定度报告的编制
第1,556行: 第1,508行:


g) 如有必要在质量文件中注明扩展不确定度(除非有要求,测试实验室不需要在报告中出具这些 数据)。
g) 如有必要在质量文件中注明扩展不确定度(除非有要求,测试实验室不需要在报告中出具这些 数据)。




第1,614行: 第1,565行:


如静电放电枪的方向等方面可认为是A 类的不确定度,而且在本部分中一般不涉及到这些不确定 度。一个例外就是已经考虑的测量和校准测量系统的重复性。
如静电放电枪的方向等方面可认为是A 类的不确定度,而且在本部分中一般不涉及到这些不确定 度。一个例外就是已经考虑的测量和校准测量系统的重复性。
GB/T 17626.2-2018/IEC61000-4-2:2008


E.7 校准结果的不确定度
E.7 校准结果的不确定度


建议对每个校准项生成独立的不确定度报告,即 I,,Iso,I⁶o,t:。对于一次静电放电试验,骚扰量为 由静电放电发生器施加到受试样品上的放电电流。此骚扰量的校准项为Ip,Iso,I6 和t,。如 E.6 所述, 每个参数需单独计算不确定度报告。
建议对每个校准项生成独立的不确定度报告,即 I<sub>p</sub>,I<sub>30</sub>,I<sub>60</sub>,t<sub>r</sub>。对于一次静电放电试验,骚扰量为 由静电放电发生器施加到受试样品上的放电电流。此骚扰量的校准项为I<sub>p</sub>,I<sub>30</sub>,I<sub>60</sub>和t<sub>r</sub>。如 E.6 所述, 每个参数需单独计算不确定度报告。


表E.1、表 E.2 和表E.3 给出了这些参数计算好的不确定度报告实例。表中包括了对这些实例来说 认为对不确定度报告最重要的分量,每个分量的具体信息(数值、分布类型等)以及用来决定每个不确定 度报告的计算结果。
表E.1、表 E.2 和表E.3 给出了这些参数计算好的不确定度报告实例。表中包括了对这些实例来说 认为对不确定度报告最重要的分量,每个分量的具体信息(数值、分布类型等)以及用来决定每个不确定 度报告的计算结果。
第1,625行: 第1,574行:
表 E.1 静电放电上升时间校准的不确定度报告实例
表 E.1 静电放电上升时间校准的不确定度报告实例


{| class="wikitable"
{| class="wikitable"  
 
|-
! 因素
! 分布
! 值 ps
! ui(y) ps
! ui(y)² ps²
! 备注
|-
|-
! 因素 !! 分布 !! 值 ps !! u<sub>i</sub>(y) ps !! u<sub>i</sub>(y)² ps² !! 备注
| 峰值读数
 
| 正态k=2
| 50
| 25
| 625
| 峰值6.3%不确定度 (表E.2)乘以测得的上升时间800 ps
|-
|-
| 峰值读数 || 正态k=2 || 50 || 25 || 625 || 峰值6.3%不确定度 (表E.2)乘以测得的上升时间800 ps
| 90%峰值电流的时间读数
 
| 矩形因子=√3
| 25
| 14
| 196
| 示波器采样率20 GS/s
|-
|-
| 90%峰值电流的时间读数 || 矩形因子=√3 || 25 || 14 || 196 || 示波器采样率20 GS/s
| 10%峰值电流的时间读数
 
| 矩形因子=√3
| 25
| 14
| 196
| 示波器采样率20 GS/s
|-
|-
| 10%峰值电流的时间读数 || 矩形因子=√3 || 25 || 14 || 196 || 示波器采样率20 GS/s
| 总示波器水平测量因素(注1)
 
| 正态k=2
| 36
| 18
| 324
| 来源于示波器的校准试验室
|-
|-
| 总示波器水平测量因素(注1) || 正态k=2 || 36 || 18 || 324 || 来源于示波器的校准试验室
| 靶-衰减器-电缆链
 
| 正态k=2
| 30
| 15
| 225
| 来源于示波器的校准试验室(注2)
|-
|-
| 靶-衰减器-电缆链 || 正态k=2 || 30 || 15 || 225 || 来源于示波器的校准试验室(注2)
| 重复性
 
| 正态因子=1
| 45
| 45
| 2025
| 由A类评估获得(注3)
|-
|-
| 重复性 || 正态因子=1 || 45 || 45 || 2025 || 由A类评估获得(注3)
|  
 
|  
|  
| 总计
| 3591
|  
|-
|-
| || || || 总计 || 3591 ||
| 上升时间的合成标准不确定度ue
 
|  
|  
|
| 60 ps
|  
|-
|-
| 上升时间的合成标准不确定度ue ||  || || 根 || 60 ps ||
| 上升时间的扩展不确定度U
 
| 正态k=2
| 120 ps (15%)
|  
|  
| 置信度95%
|-
|-
| 上升时间的扩展不确定度U || 正态k=2 || 120 ps (15%) ||  ||  || 置信度95%
| colspan="6" | 注1: 总示波器水平测量值因素包括示波器水平分辨率,插值分辨率,时基分辨率,频率测量,上升时间修正等不确定度因素。<br />  <br />注2: 链的校准证书通常只包括衰减的频率响应。在此假设,上升时间测量的不确定度分量也由校准试验室提供,因此k=2。<br />  <br />注3: 重复性需要至少5次的连续测量。这是A类评估,由n次重复测量得到标准差s(可)的公式为:<br /><br /><math>s\left(\overline{q}\right)=\sqrt{\frac{1}{n\left(n-1\right)}\sum_{j=1}^{n}\left(q_{j}-\overline{q}\right)^{2}}</math><br /><br />其中q<sub>j</sub>:第j次的测量结果;<math>\overline{q}</math>:结果的算术平均值。
 
|}
|}
注1: 总示波器水平测量值因素包括示波器水平分辨率,插值分辨率,时基分辨率,频率测量,上升时间修正等不确定度因素。 
注2: 链的校准证书通常只包括衰减的频率响应。在此假设,上升时间测量的不确定度分量也由校准试验室提供,因此k=2。 
注3: 重复性需要至少5次的连续测量。这是A类评估,由n次重复测量得到标准差s(可)的公式为:'''此处以截图替代'''
其中q:第j次的测量结果;q:结果的算术平均值。




第1,668行: 第1,653行:
表 E.2 静电放电峰值电流校准的不确定度报告实例
表 E.2 静电放电峰值电流校准的不确定度报告实例


{| class="wikitable" style="vertical-align:middle; background-color:#FFF; color:#2D3748;"
{| class="wikitable"  
|-
|-
! 分量
! 分量
! 分布
! 分布
! 值 %
! 值 %
! u<sub>i</sub>(y) %
! ui(y) %
! u<sub>i</sub>(y)² %²
! ui(y)² %²
! 备注
! 备注
|- style="background-color:#F0F0F0;"
|-
| 总示波器垂直测量 分量(注1)
| 总示波器垂直测量 分量(注1)
| 正态k=2
| 正态k=2
第1,690行: 第1,675行:
| 3.24
| 3.24
| 来自校准实验室
| 来自校准实验室
|- style="background-color:#F0F0F0;"
|-
| 示波器链的不匹配
| 示波器链的不匹配
| U形 因子= √ 2
| U形 因子= √ 2
第1,704行: 第1,689行:
| 9×10<sup>-12</sup>
| 9×10<sup>-12</sup>
| 内部校准(注3)
| 内部校准(注3)
|- style="background-color:#F0F0F0;"
|-
| 重复性
| 重复性
| 因子=1
| 因子=1
第1,718行: 第1,703行:
| 10.05
| 10.05
|  
|  
|- style="background-color:#F0F0F0;"
|-
| 峰值电流的合成标 准不确定度u<sub>c</sub>
| 峰值电流的合成标 准不确定度uc
|  
|  
|  
|  
第1,732行: 第1,717行:
|  
|  
| 置信度95%
| 置信度95%
|-
| colspan="6" | 注 1:总示波器垂直测量分量包括示波器垂直分辨率、低频线性度、高频线性度、偏置分辨率等。校准需要覆盖全频段,即 f ≤ 2 GHz。然而,在截止频率为 f<sub>c</sub> = 2 GHz 的一阶滤波器下,平坦度不必更好,即 <math>A(f)\sim\mid1+(f/f_{\mathrm{c}})^2\mid^{-1/2}</math>。<br /><br />注 2:失配分量是由轭-衰减器-电缆链的输出反射系数 Γ<sub>c</sub> 和示波器的输入反射系数 Γ<sub>0</sub> 来决定的。他们宜从校准证书或技术规范上获得。由于 Γ 中二阶分量的误差,一个可靠的技术规范就够了。但是请注意,技术规范也要覆盖全频段,示波器通常不是这样,所以需要额外的测量。<br /><br />失配分量:Γ<sub>c</sub>× Γ<sub>0</sub>,U 型分布,因此除数为 √2。<br /><br />这个失配不确定度的公式假设了示波器的幅度响应已根据射频校准的概念进行了校准,即电压误差是基于 50Ω 源的人射电压而不是输入的实际电压。这宜在证书上核实,否则需应用不同的公式。<br /><br />注 3:这里假定试验室有一个单独的校准指导书,其不确定度的评估得到此校准的扩展不确定度 U。<br /><br />注 4:至少取得连续 5 次的测量值来得到重复性。这是 A 类评估,由 n 次重复测量值得到标准差 <math>s\left(\overline{q}\right)</math>的公式为:<br /><br /><math>s(\overline{q})=\sqrt{\frac{1}{n(n-1)}\sum_{j=1}^{n}(q_{j}-\overline{q})^{2}}</math><br /><br />其中 q<sub>j</sub>,第 j 次的测量结果;<math>\overline{q}</math>,结果的算术平均值。
|}
|}


'''此处以截图替代'''


表 E.3 静电放电中I ₃0,I 6o校准不确定度评估实例
表 E.3 静电放电中I ₃0,I 6o校准不确定度评估实例
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下列推荐的用于进行校准的试验室使用的测量不确定度:
下列推荐的用于进行校准的试验室使用的测量不确定度:


上升时间 t, M U≤15 %
上升时间 t<sub>r</sub> M U≤15 %


峰值电流I MU ≤7%
峰值电流I<sub>p</sub> MU ≤7%


30 ns 时的电流 MU ≤ 7
30 ns 时的电流 MU ≤ 7
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附 录 F
== 附 录 F ==


(资料性附录)
(资料性附录)
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试验结果的变化和调整策略
试验结果的变化和调整策略


F.1 试验结果的变化
=== F.1 试验结果的变化 ===


由于静电放电本身的复杂性和试验设备固有的偏差,可预料到静电放电试验的结果会有一些变化。 通常,这些变化表现为在不同的测试等级出现错误或者试验过程中受试设备出现不同类型的错误。根 据它们出现错误的试验等级,这些试验结果变化可以影响对受试设备是否通过试验的决定。
由于静电放电本身的复杂性和试验设备固有的偏差,可预料到静电放电试验的结果会有一些变化。 通常,这些变化表现为在不同的测试等级出现错误或者试验过程中受试设备出现不同类型的错误。根 据它们出现错误的试验等级,这些试验结果变化可以影响对受试设备是否通过试验的决定。
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如果试验结果的差异是因为使用了不同的静电放电发生器,满足6.2要求的任何发生器作出的结 果都可以用来确定与本部分的符合性。
如果试验结果的差异是因为使用了不同的静电放电发生器,满足6.2要求的任何发生器作出的结 果都可以用来确定与本部分的符合性。


F.2 调整策略
=== F.2 调整策略 ===


当所有试验条件,包括静电放电发生器都相同的情况下,如果出现试验结果的差异,则以下调整策 略可用于确定本部分的符合性。该策略将被单独应用到每一个出现试验结果变化的试验点。
当所有试验条件,包括静电放电发生器都相同的情况下,如果出现试验结果的差异,则以下调整策 略可用于确定本部分的符合性。该策略将被单独应用到每一个出现试验结果变化的试验点。
焦雨桐
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