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电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017：修订间差异

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电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017 (查看源代码)

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[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图1 类型1的确认校准框图.jpeg]]
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说 明 ：
说 明 ：
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[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_ 图2 类型2的确认校准框图.jpeg]]
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说 明 ：
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[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图4 类型4的确认校准框图.jpeg]]
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说 明 ：
说 明 ：
第291行： 第291行：
i) 信号源：能够产生稳定信号的射频信号发生器。
i) 信号源：能够产生稳定信号的射频信号发生器。


j) 功率放大器：在FAR 确认/校准和抗扰度试验过程中(见5.2 c) 和 d]] 应监控放大器的输出功 率。见附录A 中有关谐波和压缩特性方面的考虑。
j) 功率放大器：在FAR 确认/校准和抗扰度试验过程中(见5.2 c) 和 d|400px]] 应监控放大器的输出功 率。见附录A 中有关谐波和压缩特性方面的考虑。


k) 标量或矢量网络分析仪：该仪器用于测量在两点之间的传递函数(Sza) 或两个信号(没有桥接 器)之比。
k) 标量或矢量网络分析仪：该仪器用于测量在两点之间的传递函数(Sza) 或两个信号(没有桥接 器)之比。
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[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图5 用于FAR确认的取样点的位置示意图.jpeg]]
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第664行： 第664行：
—— 对于台式 EUT (见图6和图7),离开试验空间的电缆(也就是连接 EUT 与“外部世 界”的电缆)暴露在电磁场中的总长度应至少为1m。
—— 对于台式 EUT (见图6和图7),离开试验空间的电缆(也就是连接 EUT 与“外部世 界”的电缆)暴露在电磁场中的总长度应至少为1m。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图6台式设备的试验布置示例.jpeg]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图6台式设备的试验布置示例.jpeg|400px]]


图6 台式设备的试验布置示例
图6 台式设备的试验布置示例


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图7台式设备的试验布置示例俯视图.jpeg]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图7台式设备的试验布置示例俯视图.jpeg|400px]]


图7 台式设备的试验布置示例俯视图
图7 台式设备的试验布置示例俯视图
第674行： 第674行：
——对于落地式EUT (见图8和图9),离开试验空间的电缆，在试验空间内其水平方向上 的长度应至少为0.3 m; 垂直方向上，根据典型、正常的使用情况布置(取决于I/O 端 口高于试验空间底部的高度)。
——对于落地式EUT (见图8和图9),离开试验空间的电缆，在试验空间内其水平方向上 的长度应至少为0.3 m; 垂直方向上，根据典型、正常的使用情况布置(取决于I/O 端 口高于试验空间底部的高度)。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图8 落地式设备的试验布置示例.jpeg]]
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图 8 落地式设备的试验布置示例
图 8 落地式设备的试验布置示例




[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图9 落地式设备的试验布置示例俯视图.jpeg]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图9 落地式设备的试验布置示例俯视图.jpeg|400px]]


图 9 落地式设备的试验布置示例俯视图
图 9 落地式设备的试验布置示例俯视图
第780行： 第780行：
i) 将宽带天线改为垂直极化，重复步骤b)~h)。
i) 将宽带天线改为垂直极化，重复步骤b)~h)。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图 A.1抗扰度试验中 d.的定义.jpeg]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图 A.1抗扰度试验中 d.的定义.jpeg|400px]]


说明：
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[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图B.1 发射测量 dmeat的定义.jpeg]]
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说明：
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第1,085行： 第1,085行：
图 D.1 示出了场强测量不确定度评定时需考虑的影响因素的例子。
图 D.1 示出了场强测量不确定度评定时需考虑的影响因素的例子。


[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图 D.1发射测量影响因素的例子.jpeg]]
[[文件:电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量GB 17626.22-2017_图 D.1发射测量影响因素的例子.jpeg|400px]]




第1,472行： 第1,472行：
|- style="vertical-align:middle;"
|- style="vertical-align:middle;"
| 系统平均转换系数(8)
| 系统平均转换系数(8)
| CdB
| C<sub>dB</sub>
| 0.77
| 0.77
| k=1
| k=1
第1,702行： 第1,702行：




如果只是已知参数的模或参数的模的极值，那么要想计算 δM 是不可能的，但可以确认其极值 8M± 将不大于：
如果只是已知参数的模或参数的模的极值，那么要想计算 δM 是不可能的，但可以确认其极值 δM<sup>±</sup> 将不大于：


δM±=20lg[1±(|Te||Sn|+|F||S₂2|+|Te||P,||Si||S₂|+|Fe||P.||Sa₁|²)]
<math>\delta M^{\pm}=20\lg[1\pm(|\Gamma_{\epsilon}||S_{11}|+|\Gamma_{\tau}||S_{22}|+|\Gamma_{\epsilon}||T_{\tau}||S_{11}||S_{22}|+|\Gamma_{\epsilon}||F_{\tau}||S_{21}|^{2})]</math>…………………………(D.2)


…………………………(D.2)
δM 的概率分布近似为U 形分布，其宽度不大于(δM<sup>+</sup>-δM<sup>-</sup>) 、 标准差不大于半宽度除以 √2。 对于辐射骚扰测量，假设天线的技术指标 VSWR≤2.0, 进而得出(天线端的) |<math>\Gamma_{\mathrm{e}}</math>|≤0.33 。 同 时假设接收机的连接电缆匹配良好( |S<sub>11</sub>|<<1,|S<sub>22</sub>|<<1) 、 其衰减可以忽略不计 (|S<sub>21</sub>|≈1); 此外接收机的射频衰减为0 dB。 这一假设是建立在满足 GB/T 6113.101基 础 上，即VSWR≤2.0, 进而得出(接收机端的)反射系数|\Gamma_{\mathrm{e}}|≤0.33。


δM 的概率分布近似为U 形分布，其宽度不大于(δM+-δM-) 、 标准差不大于半宽度除以 √2。 对于辐射骚扰测量，假设天线的技术指标 VSWR≤2.0, 进而得出(天线端的) |Te|≤0.33 。 同 时假设接收机的连接电缆匹配良好( |Sn|<<1,|S₂2|<<1) 、 其衰减可以忽略不计 (|S₂1|≈1); 此外接收机的射频衰减为0 dB。 这一假设是建立在满足 GB/T 6113.101基 础 上，即VSWR≤2.0, 进而得出(接收机端的)反射系数|T.|≤0.33。
修正 δM 的估计值为0、服从宽度等于(δM<sup>+</sup>-δM<sup>-</sup>) 的 U 形概率分布。


修正 δM 的估计值为0、服从宽度等于(8M+-δM-) 的 U 形概率分布。
注4:δM和δM<sup>±</sup>的表达式表明：减小失配误差可以通过在接收机前增加匹配良好的两端口网络的衰减来实现，其 代价是降低了测量的灵敏度。
 
注4:8M和8M±的表达式表明：减小失配误差可以通过在接收机前增加匹配良好的两端口网络的衰减来实现，其 代价是降低了测量的灵敏度。


注5:式(D.2)的额外考虑：a) 当加数之间不相关或仅弱相关时，则线性相加可以用平方和的平方根法则代替。
注5:式(D.2)的额外考虑：a) 当加数之间不相关或仅弱相关时，则线性相加可以用平方和的平方根法则代替。


b) 通常，当加数的量值不大时，可以做进一步的近似(下式中的δM±为U 形分布的半宽),最终得到：
b) 通常，当加数的量值不大时，可以做进一步的近似(下式中的δM<sup>±</sup>为U 形分布的半宽),最终得到：


8M±≈8.7√(ITeI|Sn)²+(IT₁I|S₂2D)²+(IT.I|T:IIS₂I²)²dB
<math>\delta M^{\pm}\approx8.7\sqrt{(\mid\Gamma_{e}\mid\mid S_{11}\mid)^{2}+(\mid\Gamma_{1}\mid\mid S_{22}\mid)^{2}+(\mid\Gamma_{e}\mid\mid\Gamma_{\tau}\mid\mid S_{21}\mid^{2})^{2}}\mathrm{dB}</math>


对某些天线，某些频率上的VSWR 可能远大于2.0。
对某些天线，某些频率上的VSWR 可能远大于2.0。
第1,724行： 第1,722行：
需要指出，当使用复杂天线时，可能需要采取措施以确保从接收机向天线端口看过去的天线阻 抗符合GB/T6113.101 规定的VSWR≤2.0 要求。
需要指出，当使用复杂天线时，可能需要采取措施以确保从接收机向天线端口看过去的天线阻 抗符合GB/T6113.101 规定的VSWR≤2.0 要求。


8) 系统平均转换系数由15个采样点的值计算得到。由于被测量为系统平均转换系数，因此其标 准偏差sap,c需作为不确定度的输入量。表D.1 和 表D.2 给出的平均值的标准偏差是由15个 采样点的值计算得到的。
8) 系统平均转换系数由15个采样点的值计算得到。由于被测量为系统平均转换系数，因此其标 准偏差<math>s_{\mathrm{~dB,}\overline{c}}</math>需作为不确定度的输入量。表D.1 和 表D.2 给出的平均值的标准偏差是由15个 采样点的值计算得到的。


9) 在确认/校准类型1的布置中，系统平均转换系数的估值是根据场强探头得到的。这种不确定 度的输入量为校准不确定度、场强探头的不平衡(各向异性)、场强探头的频率响应和温度敏感 性的一个合成量。通常，这个数据可从场强探头的参数表或校准证书中得到。
9) 在确认/校准类型1的布置中，系统平均转换系数的估值是根据场强探头得到的。这种不确定 度的输入量为校准不确定度、场强探头的不平衡(各向异性)、场强探头的频率响应和温度敏感 性的一个合成量。通常，这个数据可从场强探头的参数表或校准证书中得到。
第1,732行： 第1,730行：
11) 参考天线和用于确认/校准试验的测量接收机或网络分析仪的输入端之间的电缆衰减需要进 行测量。与其对应的测量不确定度影响系统平均转换系数的标准偏差。这种不确定度分量 仅适用于类型2～类型4的布置。
11) 参考天线和用于确认/校准试验的测量接收机或网络分析仪的输入端之间的电缆衰减需要进 行测量。与其对应的测量不确定度影响系统平均转换系数的标准偏差。这种不确定度分量 仅适用于类型2～类型4的布置。


12)参考天线和测量接收机或网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δMcz进行考虑，这种不确 定度分量与失配的修正相关，仅适用于类型2~类型4的布置。有关评定原理的详细信息见 D.1.3 的7)。
12)参考天线和测量接收机或网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δM<sub>c2</sub>进行考虑，这种不确 定度分量与失配的修正相关，仅适用于类型2~类型4的布置。有关评定原理的详细信息见 D.1.3 的7)。


13)在确认/校准过程中，与参考天线相连的接收机的示值为Vim, 其不确定度来源为接收机读数 和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型2的布置。
13)在确认/校准过程中，与参考天线相连的接收机的示值为V<sub>ind</sub>, 其不确定度来源为接收机读数 和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型2的布置。


14) 如果转换系数是通过相邻校准频率点的数据之间的内插计算得到的，那么该转换系数的不确 定度依赖于确认/校准点之间的频率间隔和转换系数随频率的变化。画出被校准转换系数随 频率变化的曲线有助于直观了解这种情形。
14) 如果转换系数是通过相邻校准频率点的数据之间的内插计算得到的，那么该转换系数的不确 定度依赖于确认/校准点之间的频率间隔和转换系数随频率的变化。画出被校准转换系数随 频率变化的曲线有助于直观了解这种情形。


对转换系数的内插误差的修正 δC: 的估计值为0,并服从半宽度为0.3 dB 的矩形概率分布。 注6:如果在任一频率点上均可得到校准的天线系数，那么则不必考虑修正 δC。
对转换系数的内插误差的修正 δC<sub>f</sub> 的估计值为0,并服从半宽度为0.3 dB 的矩形概率分布。 注6:如果在任一频率点上均可得到校准的天线系数，那么则不必考虑修正 δC<sub>f</sub>。


15) 需要测量功率输入和前向功率输出之间定向耦合器的耦合因子。这种不确定度分量与耦合 因子的测量相关，适用于类型1、类型2和类型4的布置。
15) 需要测量功率输入和前向功率输出之间定向耦合器的耦合因子。这种不确定度分量与耦合 因子的测量相关，适用于类型1、类型2和类型4的布置。
第1,750行： 第1,748行：
18) 定向耦合器的前向功率输出和频谱分析仪/功率计/网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δMc₁ 进行考虑。这种不确定度分量与失配的修正相关，仅适用于类型1、类型2和类型4的 配置。有关评定原理的详细信息见D.1.3 的7)。
18) 定向耦合器的前向功率输出和频谱分析仪/功率计/网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δMc₁ 进行考虑。这种不确定度分量与失配的修正相关，仅适用于类型1、类型2和类型4的 配置。有关评定原理的详细信息见D.1.3 的7)。


19) 在确认/校准过程中，与定向耦合器的输出端相连的频谱分析仪/功率计的示值为Pind 。其不 确定度来源为接收机读数和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型1和类型2的布置。
19) 在确认/校准过程中，与定向耦合器的输出端相连的频谱分析仪/功率计的示值为P<sub>ind</sub> 。其不 确定度来源为接收机读数和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型1和类型2的布置。


20) 在确认/校准类型3和类型4的布置中需要测量参数S₂1 。 与这种测量相关的不确定度会影 响系统平均转换系数偏差的不确定度。
20) 在确认/校准类型3和类型4的布置中需要测量参数S<sub>21</sub> 。 与这种测量相关的不确定度会影 响系统平均转换系数偏差的不确定度。


21) 对于双锥天线，交叉极化响应被认为是可忽略的。对于对数周期天线，对交叉极化响应的修 正 8Ap 的估计值为0,且服从矩形概率分布，其半宽度为0.9 dB, 对应于 GB/T 6113.104 中 -20 dB的交叉极化响应的允差。
21) 对于双锥天线，交叉极化响应被认为是可忽略的。对于对数周期天线，对交叉极化响应的修 正 δA<sub>cp</sub> 的估计值为0,且服从矩形概率分布，其半宽度为0.9 dB, 对应于 GB/T 6113.104 中 -20 dB的交叉极化响应的允差。


注7:如果测量天线是偶极子天线，则修正8Ap可忽略不计。
注7:如果测量天线是偶极子天线，则修正δA<sub>cp</sub>可忽略不计。


22) 测试距离的误差来自于对 EUT 边界的确定、测量距离和天线杆的倾斜程度。对距离误差的 修正 δdmeasurement的估计值为0,且服从矩形概率分布和一定大小的半宽度，该值是在最大距离 误差为±0.1 m、在所界定的距离范围内场强与距离成反比的假设的基础上评估出来的。
22) 测试距离的误差来自于对 EUT 边界的确定、测量距离和天线杆的倾斜程度。对距离误差的 修正 δd<sub>measurement</sub>的估计值为0,且服从矩形概率分布和一定大小的半宽度，该值是在最大距离 误差为±0.1 m、在所界定的距离范围内场强与距离成反比的假设的基础上评估出来的。


D.2 抗扰度试验的不确定度
=== D.2 抗扰度试验的不确定度 ===


D.2.1 概述
D.2.1 概述
第1,777行： 第1,775行：


图 D.2 给出了对试验方法有影响的示例，值得注意的是下图中给出的影响因素并不全面。
图 D.2 给出了对试验方法有影响的示例，值得注意的是下图中给出的影响因素并不全面。




第2,422行： 第2,418行：
D.2.4 关于输入量估计值的说明
D.2.4 关于输入量估计值的说明


表 D.3 和表 D.4 所列的输入量估计值x; 的不确定度是表中所注明的覆盖频率范围内最大的不确 定度。输入量圆括号中的编号系指下面说明的编号。
表 D.3 和表 D.4 所列的输入量估计值x<sub>i</sub> 的不确定度是表中所注明的覆盖频率范围内最大的不确 定度。输入量圆括号中的编号系指下面说明的编号。


表 D.3 和表 D.4 中的估计值的某些假设对一个特定的检测实验室可能是不适用的。当检测实验室 评定其测量设备的扩展不确定度时，应考虑其特定的测量系统所提供的信息，包括设备的特性、校准数 据的质量和传递、已知的或可能的概率分布以及测量程序。检测实验室在整个频率范围内分段评定其 不确定度是有利的，尤其是当一个占主导地位的不确定度分量在整个频率范围内变化显著时更是如此。
表 D.3 和表 D.4 中的估计值的某些假设对一个特定的检测实验室可能是不适用的。当检测实验室 评定其测量设备的扩展不确定度时，应考虑其特定的测量系统所提供的信息，包括设备的特性、校准数 据的质量和传递、已知的或可能的概率分布以及测量程序。检测实验室在整个频率范围内分段评定其 不确定度是有利的，尤其是当一个占主导地位的不确定度分量在整个频率范围内变化显著时更是如此。
第2,430行： 第2,426行：
下列各项说明中所含的注，旨在为与上面假定的数据或情形不同的检测实验室提供一些指导：
下列各项说明中所含的注，旨在为与上面假定的数据或情形不同的检测实验室提供一些指导：


1)此不确定度分量与用于抗扰度试验的功率计本身及其传感器的不确定度有关。该不确定度可 从制造商的规范和/或校准证书得到。如果使用确认/校准类型1的配置，且抗扰度试验时使 用相同的电缆/设备，则此不确定度分量δPind,t和不确定度分量δPind(20)简化为功率计的重 复性和线性。
1)此不确定度分量与用于抗扰度试验的功率计本身及其传感器的不确定度有关。该不确定度可 从制造商的规范和/或校准证书得到。如果使用确认/校准类型1的配置，且抗扰度试验时使 用相同的电缆/设备，则此不确定度分量δP<sub>ind,t</sub>和不确定度分量δP<sub>ind</sub>(20)简化为功率计的重 复性和线性。


2) 稳态后功率放大器增益的快速变化产生的影响。
2) 稳态后功率放大器增益的快速变化产生的影响。
第2,442行： 第2,438行：
6) 如果确认/校准测量和抗扰度试验时定向耦合器和功率计之间使用的电缆不同，则需要对其进 行表征。此不确定度分量与抗扰度试验时使用的电缆相关。通常，仅确认/校准类型3的配置 通常需要考虑此分量。
6) 如果确认/校准测量和抗扰度试验时定向耦合器和功率计之间使用的电缆不同，则需要对其进 行表征。此不确定度分量与抗扰度试验时使用的电缆相关。通常，仅确认/校准类型3的配置 通常需要考虑此分量。


7)定向耦合器的前向功率输出会连接到一个两端口网络的一端(端口1),而反射系数为T₂ 的 功 率计则连接到网络的另一端(端口2)。该两端口网络可以是电缆、衰减器、衰减器和电缆的串 联或者某些其他部件的组合；它可以用S 参数来表征。由此得到对网络引入失配的修正 δM 如下：
7)定向耦合器的前向功率输出会连接到一个两端口网络的一端(端口1),而反射系数为<math>\Gamma_{\mathrm{r}}</math>的 功 率计则连接到网络的另一端(端口2)。该两端口网络可以是电缆、衰减器、衰减器和电缆的串 联或者某些其他部件的组合；它可以用S 参数来表征。由此得到对网络引入失配的修正 δM 如下：


8M=20lg[(1-TeS11)(1-F,S₂2)-S²₁TeT:] …………(D.3)
<math>\delta M=20\lg[(1-\Gamma_{\mathrm{e}}S_{11})(1-\Gamma_{\mathrm{r}}S_{22})-S_{21}^{2}\Gamma_{\mathrm{e}}\Gamma_{\mathrm{r}}]</math> …………(D.3)


式中：
式中：


Te—— 从定向耦合器的输出端口看进去的反射系数。所有的参数都是相对于50Ω的。
<math>\Gamma_{\mathrm{e}}</math>—— 从定向耦合器的输出端口看进去的反射系数。所有的参数都是相对于50Ω的。


如果只是已知参数的模或参数的模的极值，那么要想计算 δM 是不可能的，但可以确认其极值 8M± 将不大于：
如果只是已知参数的模或参数的模的极值，那么要想计算 δM 是不可能的，但可以确认其极值 δM<sup>±</sup> 将不大于：


δM±=20lg[1±(|Fe||Sn|+|T||S₂₂|+|Te||P.||Sn||S22|+|Te||T.||Sz₁l²)]


…………………………(D.4)
<math>\partial M^{\pm}=20\lg[1\pm(\mid\Gamma_{\mathfrak{e}}\mid\mid S_{\mathfrak{u}}\mid+\mid\Gamma_{\mathfrak{r}}\mid\mid S_{\mathfrak{z}2}\mid+\mid\Gamma_{\mathfrak{e}}\mid\mid T_{\mathfrak{r}}\mid\mid S_{\mathfrak{z}1}\mid\mid S_{\mathfrak{z}2}\mid+\mid\Gamma_{\mathfrak{e}}\mid\mid T_{\mathfrak{r}}\mid\mid S_{\mathfrak{z}1}\mid^{2})]</math>…………………………(D.4)


式中：
式中：


8M 的概率分布近似为U 形分布，其宽度不大于(8M+-δM-) 、 标准差不大于半宽度除以 √2。
δM 的概率分布近似为U 形分布，其宽度不大于(δM<sup>+</sup>-δM<sup>-</sup>) 、 标准差不大于半宽度除以 √2。


修正 δM 的估计值为0、服从宽度等于(8M+-δM-) 的 U 形概率分布。
修正 δM 的估计值为0、服从宽度等于(δM<sup>+</sup>-δM<sup>-</sup>) 的 U 形概率分布。


注1: δM 和 δM±的表达式表明：减小失配误差可以通过在接收机前增加匹配良好的两端口网络的衰减来实 现，其代价是降低了测量的灵敏度。
注1: δM 和 δM±的表达式表明：减小失配误差可以通过在接收机前增加匹配良好的两端口网络的衰减来实 现，其代价是降低了测量的灵敏度。


注2:式(D.4)的额外考虑：a) 当加数之间不相关或仅弱相关时，则线性相加可以用平方和的平方根法则代 替。b) 通常，当加数的量值不大时，可以做进一步的近似(下式中的δM<sup>±</sup>为 U 形分布的半宽),最终 得 到 ：


<math>\delta M^{\pm}\approx8.7\sqrt{(\mid\Gamma_{e}\mid\mid S_{11}\mid)^{2}+(\mid\Gamma_{r}\mid\mid S_{22}\mid)^{2}+(\mid\Gamma_{e}\mid\mid\Gamma_{r}\mid\mid S_{21}\mid^{2})}\mathrm{dB}</math>


注2:式(D.4)的额外考虑：a) 当加数之间不相关或仅弱相关时，则线性相加可以用平方和的平方根法则代 替。b) 通常，当加数的量值不大时，可以做进一步的近似(下式中的8M±为 U 形分布的半宽),最终 得 到 ：
通常，仅确认/校准类型3的配置需要考虑此分量。
 
8M±≈8.7√(Tr 。I|S₁D²+(IT.I|S₂T)²+(Ir 。IIF.IIS2₁l²)dB 通常，仅确认/校准类型3的配置需要考虑此分量。


8)对于抗扰度试验，定向耦合器的输出连接到pTR。对失配所做的修正为不确定度分量，通常， 仅确认/校准类型3的配置需要考虑此分量。
8)对于抗扰度试验，定向耦合器的输出连接到p<sub>TR</sub>。对失配所做的修正为不确定度分量，通常， 仅确认/校准类型3的配置需要考虑此分量。


9)系统平均转换系数由15个采样点的值计算得到。由于被测量为系统平均转换系数，因此其标 准偏差sdB,c应作为不确定度的输入量。表D.3 和 表D.4 给出的平均值的标准偏差是由15个 采样点的值计算得到的。
9)系统平均转换系数由15个采样点的值计算得到。由于被测量为系统平均转换系数，因此其标 准偏差<math>s_{\mathrm{~dB,}\overline{C}}</math>应作为不确定度的输入量。表D.3 和 表D.4 给出的平均值的标准偏差是由15个 采样点的值计算得到的。


10) 在确认/校准类型1的布置中，系统平均转换系数的估值是根据场强探头得到的。此不确定 度的输入量为校准不确定度、场强探头的不平衡(各向异性)、场强探头的频率响应和温度敏 感性的一个合成量。通常，这个数据可从场强探头的参数表或校准证书中得到。
10) 在确认/校准类型1的布置中，系统平均转换系数的估值是根据场强探头得到的。此不确定 度的输入量为校准不确定度、场强探头的不平衡(各向异性)、场强探头的频率响应和温度敏 感性的一个合成量。通常，这个数据可从场强探头的参数表或校准证书中得到。
第2,482行： 第2,477行：
13) 参考天线和测量接收机或网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δMc₂进行考虑，此不确定 度分量与失配的修正相关，仅适用于类型2～类型4的布置。有关评定原理的详细信息见 D.2.4 的7)。
13) 参考天线和测量接收机或网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δMc₂进行考虑，此不确定 度分量与失配的修正相关，仅适用于类型2～类型4的布置。有关评定原理的详细信息见 D.2.4 的7)。


14) 在确认/校准过程中，与参考天线相连的接收机的示值为Vim, 其不确定度来源为接收机读数 和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型2的配置。
14) 在确认/校准过程中，与参考天线相连的接收机的示值为V<sub>ind</sub>, 其不确定度来源为接收机读数 和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型2的配置。


15) 如果转换系数是通过相邻校准频率点的数据之间的内插计算得到的，那么该转换系数的不确 定度依赖于确认/校准点之间的频率间隔和转换系数随频率的变化。画出被校准转换系数随 频率变化的曲线有助于直观了解这种情形。
15) 如果转换系数是通过相邻校准频率点的数据之间的内插计算得到的，那么该转换系数的不确 定度依赖于确认/校准点之间的频率间隔和转换系数随频率的变化。画出被校准转换系数随 频率变化的曲线有助于直观了解这种情形。


对转换系数的内插误差的修正 δC: 的估计值为0,并服从半宽度为0.3 dB 的矩形概率分布。
对转换系数的内插误差的修正δC<sub>f</sub>: 的估计值为0,并服从半宽度为0.3 dB 的矩形概率分布。


注3:如果在任一频率点上均可得到校准的转换系数，那么则不必考虑修正8Cf。
注3:如果在任一频率点上均可得到校准的转换系数，那么则不必考虑修正δC<sub>f</sub>。


16)需要测量功率输入和前向功率输出之间定向耦合器的耦合因子。此不确定度分量与耦合因 子的测量相关，仅适用于确认/校准和抗扰度试验时使用不同定向耦合器的情况。
16)需要测量功率输入和前向功率输出之间定向耦合器的耦合因子。此不确定度分量与耦合因 子的测量相关，仅适用于确认/校准和抗扰度试验时使用不同定向耦合器的情况。
第2,496行： 第2,491行：
18)在确认/校准类型4的布置中，定向耦合器的前向功率输出和网络分析仪之间需要使用电缆。 若抗扰度试验时定向耦合器和功率计之间使用的电缆与其不同，则其衰减需要在系统平均转 换系数的偏差中考虑。与这种测量相关的不确定度适用于类型4的配置。
18)在确认/校准类型4的布置中，定向耦合器的前向功率输出和网络分析仪之间需要使用电缆。 若抗扰度试验时定向耦合器和功率计之间使用的电缆与其不同，则其衰减需要在系统平均转 换系数的偏差中考虑。与这种测量相关的不确定度适用于类型4的配置。


19)定向耦合器的前向功率输出和网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δMc 进行考虑。此不 确定度分量与失配的修正相关，仅适用于类型2和类型4的配置。有关评定原理的详细信息 见 D.2.4 的7)。
19)定向耦合器的前向功率输出和网络分析仪之间的连接通过失配修正项 δM<sub>c1</sub> 进行考虑。此不 确定度分量与失配的修正相关，仅适用于类型2和类型4的配置。有关评定原理的详细信息 见 D.2.4 的7)。


20) 在确认/校准过程中，与定向耦合器的输出端相连的频谱分析仪/功率计的示值为 Pind。其 不 确定度来源为接收机读数和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型1和类型2的配置。如 果抗扰度试验时使用相同的功率计，结合D.2.4 的1),则此不确定度分量 δPind和不确定度分 量δPind,t(1)简化为功率计的重复性和线性。
20) 在确认/校准过程中，与定向耦合器的输出端相连的频谱分析仪/功率计的示值为 P<sub>ind</sub>。其 不 确定度来源为接收机读数和正弦波响应准确度的合成，仅适用于类型1和类型2的配置。如 果抗扰度试验时使用相同的功率计，结合D.2.4 的1),则此不确定度分量 δP<sub>ind</sub>和不确定度分 量δP<sub>ind,t</sub>(1)简化为功率计的重复性和线性。


21)在确认/校准类型3和类型4的配置中需要测量参数Sa₁ 。 与此测量相关的不确定度会影响
21)在确认/校准类型3和类型4的配置中需要测量参数Sa₁ 。 与此测量相关的不确定度会影响
第2,504行： 第2,499行：
系统平均转换系数偏差的不确定度。
系统平均转换系数偏差的不确定度。


22) 对于双锥天线，交叉极化响应被认为是可忽略的。对于对数周期天线，对交叉极化响应的修 正 8Acp的估计值为0,且服从矩形概率分布，其半宽度为0.9 dB, 对应于GB/T6113.104 中一20 dB 的交叉极化响应的允差。  
22) 对于双锥天线，交叉极化响应被认为是可忽略的。对于对数周期天线，对交叉极化响应的修 正 δA<sub>cp</sub>的估计值为0,且服从矩形概率分布，其半宽度为0.9 dB, 对应于GB/T6113.104 中一20 dB 的交叉极化响应的允差。  


注4:如果测量天线是偶极子天线，则修正8A 可忽略不计。
注4:如果测量天线是偶极子天线，则修正δA<sub>cp</sub> 可忽略不计。


23) 测试距离的误差来自于对 EUT 边界的确定、测量距离和天线支架的倾斜E 大距离误差为 ±0.1 m、在所界定的距离范围内场强与距离成反比的假设的基础上评估出来的。
23) 测试距离的误差来自于对 EUT 边界的确定、测量距离和天线支架的倾斜E 大距离误差为 ±0.1 m、在所界定的距离范围内场强与距离成反比的假设的基础上评估出来的。
第2,512行： 第2,507行：




参 ·考 文 献
参 考 文 献


[1]GB/Z 18509—2016 电磁兼容 电磁兼容标准起草导则(IEC Guide 107:2009,neq)
[1]GB/Z 18509—2016 电磁兼容 电磁兼容标准起草导则(IEC Guide 107:2009,neq)
刘佳明
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